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2010 Fiscal Year Annual Research Report

スピン偏極パルスTEMの開発とナノスピン解析への応用

Research Project

Project/Area Number 21221005
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

田中 信夫  名古屋大学, エコトピア科学研究所, 教授 (40126876)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 中西 彊  名古屋大学, 理学研究科, 名誉教授 (40022735)
竹田 美和  名古屋大学, 工学研究科, 教授 (20111932)
浅野 秀文  名古屋大学, 工学研究科, 教授 (50262853)
齋藤 晃  名古屋大学, エコトピア科学研究所, 准教授 (50292280)
Keywords電子顕微鏡 / スピンエレクトロニクス / 量子ビーム
Research Abstract

(1)50-100kV透過光型偏極電子銃・スピン回転器の作製をした:前年度の設計に基づき、実際に電子銃の基本要素である極高真空チャンバー、フォトカソード装着支持台、高電界電極、ビーム軌道90°偏向用球形コンデンサーなどを含む装置を試作した。設計および模型作製などは、研究者グループのみで可能であるが、実際の真空部材の削りだしや表面処理などは、専門技術を有する企業との連携が不可欠となる。そこで、従来の電子銃開発において技術交流を行い、工作実績があるトヤマ社と連携して進めた。
(2)フォトカソードの高輝度化:前年度に引き続き、フォトカソードの改良を行った。TEMにおける応用を考えた場合、輝度の向上は不可欠である。当該年度は半導体フォトカソードの結晶性改善により、実際に用いる励起用レ半導体レーザーで、TEM観察に必要と思われる輝度を超える値を達成した。
(3)40-100kV透過光型偏極電子銃の性能確認と調整:開発した電子銃の基本性能を確認した。偏極度・輝度測定に関しては自ら開発したMott測定器により確認を行った。これにより、レーザー照射法、偏極度90%以上と輝度2.0×10^7Acm_<-2>sr^<-1>以上を達成していることを実証した。
(4)磁性観察用レンズの開発:磁性体試料によっては、対物レンズ内の磁場(~Tesla)によって磁性状態が変化してしまう恐れがある。そのため試料近傍でmT程度しか磁場がない特殊対物レンズを製作した。これはローレンツ電子顕微鏡用に商用化されているものであり、今回はその到達分解能が1nm以下になるよう設計した。
(5)40kVの透過電子顕微鏡(TEM)の立ち上げと偏極電子銃と収束レンズ部の結合:平成21年度立ち上げた電子銃に結合して、偏極電子線をTEM内に通すことに成功した。

  • Research Products

    (11 results)

All 2011 2010

All Journal Article (5 results) (of which Peer Reviewed: 5 results) Presentation (6 results)

  • [Journal Article] Development of spin-polarized transmission electron microscope2011

    • Author(s)
      M.Kuwahara, Y.Takeda, K.Saitoh, T.Ujihara, H.Asano, T.Nakanishi, N Tanaka
    • Journal Title

      Journal of Physics : Conference Seriese

      Volume: 298 Pages: 012016

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Annealing effects on a high-K lanthanum oxide film on Si (001) analyzed by aberration-corrected transmission electron microscopy/scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy2010

    • Author(s)
      Shin Inamoto, Jun Yamasaki, Eiji Okunishi, Kuniyuki Kakushima, Hiroshi Iwai, Nobuo Tanaka
    • Journal Title

      Journal of Applied Physics

      Volume: 107 Pages: 124510,10

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Automated characterization of bending and expansion of a lattice of a Si substrate near a SiGe/Si interface by using split HOLZ line patterns2010

    • Author(s)
      K.Saitoh, Y.Yasuda, M.Hamabe, N.Tanaka
    • Journal Title

      J.Electron Microsc

      Volume: 59 Pages: 367-378

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Atom-column distinction by Kikuchi pattern observed by an aberration-corrected convergent electron probe2010

    • Author(s)
      K.Saitoh, Y.Tatara, N.Tanaka
    • Journal Title

      J.Electron Microsc

      Volume: 59 Pages: 387-394

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Coherent electron interference from amorphous TEM specimens2010

    • Author(s)
      R.A.Herring, K.Saitoh, N.Tanaka, T.Tanji
    • Journal Title

      J.Electron Microsc

      Volume: 59 Pages: 321-330

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Superlattice photocathode development for low emittance2010

    • Author(s)
      M. Kuwahara, M. Yamamoto, X. G. Jin, T. Ujihara, T. Nakanishi, Y. Takeda
    • Organizer
      Photocathode Physics for Photoinjectors
    • Place of Presentation
      NY, USA
    • Year and Date
      20101012-14
  • [Presentation] Development of spin-polarized transmission microscope2010

    • Author(s)
      M. Kuwahara
    • Organizer
      Workshop on Sources of Polarized Leptons and High Brightness Electron Beam (PESP2010)
    • Place of Presentation
      Bonn, Germany
    • Year and Date
      20100921-24
  • [Presentation] Pulsed spin-polarized electron source toward a transmission electron microscope2010

    • Author(s)
      M. Kuwahara, T. Nakanishi, N. Tanaka, Y. Takeda, H. Asano, K. Saito, T. Ujihara
    • Organizer
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • Place of Presentation
      Rio de Janeilo, Brazil
    • Year and Date
      20100919-24
  • [Presentation] Superlattice photocathode development for low emittance2010

    • Author(s)
      M. Kuwahara, M, Yamamoto, X. G. Jin, T. Ujihara, T, Nakanishi, Y. Takeda
    • Organizer
      The 17th IFSM International Microscopy Congress
    • Place of Presentation
      Rio de Janeilo, Brazil
    • Year and Date
      20100919-24
  • [Presentation] スピン偏極パルスTEM用電子源の特性評価2010

    • Author(s)
      桑原真人, 中西彊, 田中信夫, 竹田美和, 浅野秀文, 斎藤晃, 宇治原徹
    • Organizer
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • Place of Presentation
      Rio de Janeilo, Brazil
    • Year and Date
      20100919-20100924
  • [Presentation] スピン偏極パルス透過電子顕微鏡の開発12010

    • Author(s)
      田中信夫, 中西彊, 竹田美和, 浅野秀文, 斎藤晃, 宇治原徹, 桒原真人
    • Organizer
      日本顕微鏡学会66回学術講演会
    • Place of Presentation
      名古屋国際会議場
    • Year and Date
      20100523-26

URL: 

Published: 2013-06-26  

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