2013 Fiscal Year Annual Research Report
スピン偏極パルスTEMの開発とナノスピン解析への応用
Project/Area Number |
21221005
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Research Institution | Nagoya University |
Principal Investigator |
田中 信夫 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 教授 (40126876)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
竹田 美和 公益財団法人名古屋産業科学研究所, 研究部, 研究員 (20111932)
浅野 秀文 名古屋大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (50262853)
齋藤 晃 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 准教授 (50292280)
桑原 真人 名古屋大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教 (50377933)
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Project Period (FY) |
2009-05-11 – 2014-03-31
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Keywords | 電子顕微鏡 / スピンエレクトロニクス / 量子ビーム |
Research Abstract |
本研究では、スピン偏極電子線を用いた高分解能TEMを世界で初めて開発する。そして、新しいナノスピン解析技術の開発に本開発装置を役立てることを目的としている。 本年度は下記の5項目について実施し、それぞれの項目について目標以上の成果を得た。 (1)新TEMとの結合: 電気的安定性10^-6、真空度10^-7Paの30kV-TEM鏡体に、差動排気系を介してスピン偏極電子銃を取り付けに成功した。(2)高感度CCDカメラ検出: 透過電子回折図形や像は高感度、高時間分解能のCCDカメラで検出し、スピンの向きを変えた入射電子ごとの像や回折図形の取得を実現させた。(3)ロックイン検出: 偏極電子銃の励起光にパルス変調を行い、その変調を検出系に設けた偏向器や試料励起用ポンプレーザーと同期させることに成功した。これによりロックイン方式による像データのS/N比を上げることが可能となった。(4)超弱磁場対物レンズの装着: 磁性ドット試料に電子顕微鏡のレンズに必要な強磁場をかけないため、レンズギャップ付近の磁場をミリガウスオーダーにしたローレンツレンズを納入した。これによりローレンツ像の取得ならびに磁壁観察を実現した。(5)ナノスピン注入・改質・解析技術の新開発: スピン偏極電子銃から取り出した高スピン偏極電子をパーマロイ薄膜、ハーフメタルナノ積層構造にパルス注入することに成功。さらにスピン偏極TEM像の取得を行った。また、アップスピンTEM像とダウンスピンTEM像の差分像抽出解析を実現した。 これにより、本研究課題の目的であるスピン偏極パルスTEMの実現とその性能評価、物質観察への応用を達成した。
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Current Status of Research Progress |
Reason
25年度が最終年度であるため、記入しない。
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Strategy for Future Research Activity |
25年度が最終年度であるため、記入しない。
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Research Products
(8 results)