高輝度パルス電子線を用いた高速オペランドイメージング法の開拓

2021 Fiscal Year Comments on the Screening Results

• Project/Area Number: 21H04637
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Review Section: Medium-sized Section 28:Nano/micro science and related fields
• Research Institution: Nagoya University
• Principal Investigator: 桑原 真人 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 教授 (50377933)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 桑原 彰太 東邦大学, 理学部, 准教授 (10612658) ; 石田 高史 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 助教 (60766525) ; 飯田 敦夫 名古屋大学, 生命農学研究科, 助教 (90437278)
• Project Period (FY): 2021-04-05 – 2025-03-31

Summary of the Research Project

電子波面の揃ったパルス偏極電子線生成とそれを利用したナノ電子プローブの実現という応募者が開発した技術を基に、高速オペランドイメージング法を開発する。従来のオペランド計測法でのナノ構造観察の時間分解能がミリ秒程度だったのに対し、マイクロ秒以下での観測を達成し、実動作デバイスの逐次計測や時間的に変調する外部刺激に対するナノ物質の過渡現象の解明等に応用する。

Scientific Significance and Expected Research Achievements

高い時空間分解能を試料環境に同期した手法として、幅広いナノ材料の物性研究に大きなインパクトを与えられる高度なイメージング手法として期待できる。ナノ材料の動作環境下における機能解明や生物試料・高分子材料のダメージレス計測が可能になると期待される。