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2010 Fiscal Year Annual Research Report

次世代品質・信頼性情報システムの研究と開発

Research Project

Project/Area Number 22241038
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (A)

Research InstitutionThe University of Electro-Communications

Principal Investigator

鈴木 和幸  電気通信大学, 大学院・情報理工学研究科, 教授 (00130071)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 椿 広計  統計数理研究所, データ科学研究系, 教授 (30155436)
田中 健次  電気通信大学, 大学院・情報システム学研究科, 教授 (60197415)
伊藤 誠  筑波大学, システム情報工学研究科, 准教授 (00282343)
山本 渉  電気通信大学, 大学院・情報理工学研究科, 講師 (30303027)
金 路  電気通信大学, 大学院・情報理工学研究科, 助教 (00436734)
Keywords品質管理 / 信頼性 / 安全性 / 状態監視保全 / データ同化
Research Abstract

本研究は、次世代品質信頼性情報システムQRIS(Quality and Reliability Information System)の品質信頼性統合データベースIRSDB(Integrated Quality and Reliability DB)に蓄積されている状態監視データから、一定期間の条件を満たすデータを抽出し、データ同化技術を用いてQRISを開発し、製品一台一台ごとの最適点検・交換時点を各ユーザへ提供する理想的リスクコミュニケーションを図る。情報通信システムを個々の製品に既に実装している企業A社と「高品質・高信頼性モノづくり研究WG」を設置し、製品情報DBならびにIRSDBの分析を可能とする研究契約を締結し、信頼性・安全性研究センター設立の準備を行った。また、QRISの基盤となる下記の7分野に関し、研究代表者、共同研究者、連携研究者が、それぞれの専門の視点より検討を行った:1.統計数理科学分野、2.品質管理学分野、3.信頼性工学分野、4.情報科学分野、5.状態監視データモデリング工学分野、6.発見科学分野、7.安全科学分野。
具体的な成果は、交換可能な消耗部品に着目し、消費し切る(故障に該当)前に、交換時点を種々のモニタリング値より予測するためのデータ同化の理論的検討である。消耗部品の交換時点はユーザの使われ方、過去の履歴、環境等が大きく影響する。データ同化技術を用いて、製品一台一台の観測値ならびに関連した観測値に同化して、製品一台一台ごとの予測モデルを更新・修正し、予測精度向上を為し得た。特に、予測モデルが直近の観測値により同化された場合、直近の影響を受けるため、ユーザの使われ方が単調減少または単調増大に近い場合は、ベイズの定理と最尤推定量または分散最小化推定量を求めることで予測モデルを精度良く更新・修正を行うことができた。

  • Research Products

    (18 results)

All 2011 2010

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (11 results) Book (5 results)

  • [Journal Article] Necessary and Sufficient Condition for Optimal k-out-of-n Structure of Monitoring System with n General Sensors2011

    • Author(s)
      Jin, L., Suzuki, K.
    • Journal Title

      Journal of Reliability Engineering Association ofJapan

      Volume: 32 Pages: 89-95

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Optimum Specimen Sizes and Sample Allocation for Estimating Weibull Shape Parameters for Two Competing Failure Modes2010

    • Author(s)
      Suzuki, K., Nakamoto, T., Matsuo, Y.
    • Journal Title

      Technometrics

      Volume: 52 Pages: 209-220

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 次世代品質・信頼性情報システムQRISに向けたデータ同化の理論と応用の展開2011

    • Author(s)
      山下俊恵, 横山真弘, 山本渉, 鈴木和幸
    • Organizer
      第15回情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      電気通信大学(東京都)
    • Year and Date
      2011-02-28
  • [Presentation] グレイゾーンでの判断能力向上を目指したリスクマネジメント論2011

    • Author(s)
      田中健次
    • Organizer
      第15回情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      電気通信大学(東京都)
    • Year and Date
      2011-02-28
  • [Presentation] Integrated Reliability and Safety Information System for Personalized Risk Communication2010

    • Author(s)
      Yokoyama, M., Suzuki, K.
    • Organizer
      The 8th ANQ Congress 2010 Delhi
    • Place of Presentation
      Delhi, India
    • Year and Date
      20101020-20101022
  • [Presentation] Effective Reference Information for Entering Data in the Marginal Zone2010

    • Author(s)
      Inaba, M., Tanaka, K.
    • Organizer
      IFIP Trust and Management
    • Place of Presentation
      Iwate, Japan
    • Year and Date
      20100614-20100618
  • [Presentation] 次世代信頼性・安全性情報システムによる未然防止-状態総合監視データに基づく寿命予測と予防保全-2010

    • Author(s)
      横山真弘, 鈴木和幸, 山本渉
    • Organizer
      日本品質管理学会 第92回研究発表会
    • Place of Presentation
      日科技連東高円寺ビル(東京都)
    • Year and Date
      20100529-20100530
  • [Presentation] Prediction on Lifetime Based on Reliability and Safety Information System2010

    • Author(s)
      Suzuki, K., Yokoyama, M.
    • Organizer
      International Conference on Accelerated Life Testing (plenary invited talk)
    • Place of Presentation
      Clermont-Ferrand, France
    • Year and Date
      20100519-20100521
  • [Presentation] On estimation for the three parameter Weibull distribution using statistics invariant to unknown location2010

    • Author(s)
      Nagatsuka, H., Balakrishnan, N.
    • Organizer
      4th Asia-Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance Modeling
    • Place of Presentation
      Wellington, New Zealand
    • Year and Date
      2010-12-02
  • [Presentation] Astudy of parameter estimation of distributions based on multivariate data under order restrictions of the parameters2010

    • Author(s)
      Uchino, M., Nagatsuka, H., Yamamoto, H.
    • Organizer
      4th Asia・Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance Modeling
    • Place of Presentation
      Wellington, New Zealand
    • Year and Date
      2010-12-02
  • [Presentation] 次世代信頼性・安全性情報システムによる未然防止 -使用・環境条件の変化を考慮した状態総合監視データに基づく寿命予測-2010

    • Author(s)
      横山真弘, 鈴木和幸, 山本渉
    • Organizer
      日本品質管理学会 第40回年次大会研究発表会
    • Place of Presentation
      成城大学(東京都)
    • Year and Date
      2010-10-30
  • [Presentation] 品質保証のための信頼性技術-品質管理と未然防止-2010

    • Author(s)
      鈴木和幸
    • Organizer
      日本信頼性学会関西支部講演会
    • Place of Presentation
      中央電気倶楽部5階513号室(大阪府)(招待講演)
    • Year and Date
      2010-08-26
  • [Presentation] Qの確保-信頼性・安全性の確保と未然防止-2010

    • Author(s)
      鈴木和幸
    • Organizer
      日本品質管理学会第132回(中部支部・第29回)シンポジウム
    • Place of Presentation
      シャインズ 3Fシャインズホール(愛知県)(基調講演)
    • Year and Date
      2010-07-02
  • [Book] 経営工学 総論2010

    • Author(s)
      鈴木和幸(分担執筆)
    • Total Pages
      308
    • Publisher
      ミネルヴァ書房
  • [Book] 新版 信頼性工学入門2010

    • Author(s)
      真壁肇、宮村鐵夫、鈴木和幸、田中健次、横川慎二
    • Total Pages
      265
    • Publisher
      日本規格協会
  • [Book] Properties of Lifetime Estimators Based on Warranty Data Consisting only of Failures, Advances in Degradation Modeling, Applications in Reliability, Survival Analysis, and Finance2010

    • Author(s)
      Suzuki, K., Yamamoto, W., Hara, T., Md.M.Alam
    • Total Pages
      454(30-55
    • Publisher
      Birkhauser, Boston
  • [Book] Estimation of Archival Lifetime Distribution for Writable Optical Disks from Accelerated Testing, Mathematical and Statistical Methods in Reliability2010

    • Author(s)
      Yamamoto, W., Kumazaki, C., Suzuki, K.
    • Total Pages
      568(307-312)
    • Publisher
      Birkhauser, Boston
  • [Book] 品質管理を基盤とする信頼性・安全性の確保 (品質月間テキストNo.375)2010

    • Author(s)
      鈴木和幸
    • Total Pages
      44
    • Publisher
      日科技連出版社

URL: 

Published: 2012-07-19  

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