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2013 Fiscal Year Annual Research Report

次世代品質・信頼性情報システムの研究と開発

Research Project

Project/Area Number 22241038
Research InstitutionThe University of Electro-Communications

Principal Investigator

鈴木 和幸  電気通信大学, 情報理工学(系)研究科, 教授 (00130071)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 田中 健次  電気通信大学, 情報システム学研究科, 教授 (60197415)
伊藤 誠  筑波大学, システム情報工学研究科(系), 准教授 (00282343)
山本 渉  電気通信大学, 情報理工学(系)研究科, 講師 (30303027)
金 路  電気通信大学, 情報理工学(系)研究科, 助教 (00436734)
Project Period (FY) 2010-04-01 – 2015-03-31
Keywords品質管理 / 信頼性 / 安全性 / 状態監視保全 / データ同化
Research Abstract

“次世代品質信頼性情報システム融合研究ステーション”並びに三社の企業の協力の下、リアルタイム状態監視保全科学分野、発見科学分野、品質管理学分野、安全科学分野、信頼性工学分野、情報科学分野、データ同化・統計数理科学分野、の7分野の融合研究体制の下、下記の項目を中心に研究を進めた。
①オンラインモニタリングより獲得される使用・環境条件を初めとする共変量を“故障モード”と“トップ事象モード”に着目し、分析・検討を行った。②温度変化と汚染による抵抗値変化に起因する故障メカニズムと寿命との関連のモデル化と分析を行い、最適設計への情報抽出を行った。③企業三社の協力の下、次世代品質・信頼性情報システム(QRIS)による故障時点予測への決定木分析とワイブル回帰モデルによるアプローチ方法を検討した。④社会インフラへのオンラインモニタリングの適用にあたり、現状調査を行った。⑤日本医療機能評価機構による医療事故データベースをオンラインモニタリングへの情報と対応させ、ヒューマンエラーの分析とマネジメントへのPDCAの必要性を検討した。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

A社に加え、B社とC社が新たに本研究に加わり、理論知と現場知をシステム的アプローチにより統合することに着目し、研究を行うことが出来た。25年度に予定していた劣化量を特性値とする信頼性モニタリングによる分析理論体系の検討が不十分であった。この為、26年度は今後の低消費エネルギー社会を支えるキーデバイスとなるリチウムイオン二次電池について、使用環境条件が異なる場合の劣化量を充放電回数と保持時間の二つのタイムスケールに対する信頼性モニタリングにより分析し、余寿命予測を行う理論体系の検討を進める。

Strategy for Future Research Activity

“次世代品質信頼性情報システム融合研究ステーション”をさらに活用し、リアルタイム状態監視保全科学分野、発見科学分野、品質管理学分野、安全科学分野、信頼性工学分野、情報科学分野、データ同化・統計数理科学分野、の7分野の融合研究体制の下、下記の5項目を中心に研究を進める。
①オンラインモニタリングより獲得される使用・環境条件をはじめとする共変量に基づく個別リスクコミュニケーションの精度向上を目指す。加速・比例ハザードモデルの概念を活用し、更なる検討と精度向上を図る。②ノイズが含まれるモニタリング情報の活用法に関し検討を進め、個別リスクコミュニケーションへの適用・拡大を図る。③リチウムイオン二次電池を例に取り、“ハザード”-“故障モード”-“トップ事象モード”-“影響”の4本柱に着目し、オンラインモニタリングの適用可能性と余寿命予測の体系を検討する。④ヒューマンエラー行動ならびにそのインシデント行動の分析に基づく,エラープルーフ・フェイルセーフ設計の具体化による製品リスク低減への検討を行う。⑤これまでの成果をまとめ、社会への発信を行う。
以上を三社の企業との共同研究にて進め、研究を加速させる。

  • Research Products

    (22 results)

All 2015 2014 2013

All Journal Article (6 results) (of which Peer Reviewed: 6 results,  Open Access: 2 results) Presentation (15 results) (of which Invited: 4 results) Book (1 results)

  • [Journal Article] Nonparametric Modeling and Optimal Maintenance using On-line Monitoring in Environments with Seasonal Variations2014

    • Author(s)
      Hiraga, T., Yamamoto, W. and Suzuki, K.
    • Journal Title

      International Journal of Performability Engineering

      Volume: 10 Pages: 83-93

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] 線形な2変量時間変数に基づく信頼性寿命解析2014

    • Author(s)
      横山真弘、山本渉、鈴木和幸
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 36 Pages: 63-73

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Lifetime Prediction Model of Stress-induced Voiding in Cu/low-k Interconnects2014

    • Author(s)
      Yokogawa, S.
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics, with Peer Review

      Volume: 53 Pages: ×

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Cu配線の信頼性と界面:EM, SIV, TDDBにおける界面の寄与と制御2014

    • Author(s)
      横川慎二
    • Journal Title

      表面科学

      Volume: 35 Pages: ×

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Lifetime Distribution Analysis of Stress-induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/low-κ Interconnects2013

    • Author(s)
      Yokogawa, S. and H. Tsuchiya
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, with Peer Review

      Volume: 13 Pages: 272-276

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Optimal Maintenance Policy for Partially Observable Markovian Deteriorating System Subject to A Restorable Varying Environment2013

    • Author(s)
      Jin, L., Miyawaki, K. and Suzuki, K.
    • Journal Title

      Journal of Reliability Engineering Association of Japan

      Volume: 35 Pages: 177-187

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 福祉用具と医療におけるトップ事象モードに着目した未然防止に関する一考察2015

    • Author(s)
      藤丸儀治, 横川慎二, 鈴木和幸
    • Organizer
      第18回 情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      2015-02-27 – 2015-02-27
  • [Presentation] オンライン状態監視システムのための信頼性ビッグデータ解析2014

    • Author(s)
      後藤卓哉, 関口拓希, 山本渉, 石田勉, 金路, 鈴木和幸
    • Organizer
      第18回 情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20140227-20140227
  • [Presentation] 季節変動のある寿命データにおける個別リスクコミュニケーション2014

    • Author(s)
      片山航, 平賀拓磨, 山本渉, 石田勉, 金路, 鈴木和幸
    • Organizer
      第18回 情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20140227-20140227
  • [Presentation] S-N曲線の推定について2014

    • Author(s)
      山本渉, 金路
    • Organizer
      第18回 情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20140227-20140227
  • [Presentation] Control Limit Policy for Non-stationary Deteriorating Systems2014

    • Author(s)
      Bayarsaikhan, U. and 金路, 鈴木和幸
    • Organizer
      第18回 情報システム学研究科シンポジウム「信頼性とシステム安全学」
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20140227-20140227
  • [Presentation] Li-ion二次電池の信頼性・安全性の動向と課題2013

    • Author(s)
      横川慎二, 入倉則夫
    • Organizer
      第21回職業能力開発研究発表講演会
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20131129-20131130
  • [Presentation] 配線の故障物理と寿命分布解析2013

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      電気学会研究会資料電子回路研究会
    • Place of Presentation
      神奈川
    • Year and Date
      20131122-20131122
  • [Presentation] Optimal Decision Policy for Markovian Aging Systems2013

    • Author(s)
      Bayarsaikhan, U. and Jin, L.
    • Organizer
      日本信頼性学会第26回秋季信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20131105-20131105
  • [Presentation] ストレス誘起ボイドの信頼性保証に関する一考察2013

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第23回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20131030-20131031
  • [Presentation] Prevention of Problems on Reliability and Safety2013

    • Author(s)
      Suzuki, K.
    • Organizer
      the 11th Asian Network for Quality (ANQ) Congress
    • Place of Presentation
      タイ・バンコク
    • Year and Date
      20130814-20130818
    • Invited
  • [Presentation] Lifetime Prediction Model for Stress-induced Voiding in Cu/low-k Interconnects2013

    • Author(s)
      Yokogawa, S
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2013: 23rd Asian Session
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20130807-20130810
  • [Presentation] Prevention By Prediction And On-line Monitoring Based on Failure Mode & Top Event mode2013

    • Author(s)
      Suzuki, K.
    • Organizer
      The 8th International Conference on Mathematical Methods in Reliability: Theory, Methods and Applications
    • Place of Presentation
      南アフリカ・Stellenbosch
    • Year and Date
      20130701-20130704
    • Invited
  • [Presentation] Optimal of Monotone Procedure for Monitored Systems Working Under Variable Operations2013

    • Author(s)
      Jin, L. and Suzuki, K.
    • Organizer
      The 8th International Conference on Mathematical Methods in Reliability: Theory, Methods and Applications
    • Place of Presentation
      南アフリカ・Stellenbosch
    • Year and Date
      20130701-20130704
    • Invited
  • [Presentation] Methods for Predicting and On-Line Monitoring Based on Failure Mode & Top Event Mode, International Conference on Quality, Reliability, Risk, Maintenance, and Safety Engineering2013

    • Author(s)
      Suzuki, K.
    • Organizer
      International Conference on Materials and Reliability & International Conference on Maintenance Engineering
    • Place of Presentation
      中国・四川
    • Year and Date
      20130615-20130618
    • Invited
  • [Presentation] 原子輸送モデルによるCu/Low-k配線のストレス誘起ボイドの解析2013

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      2013年度日本信頼性学会春季シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      20130612-20130612
  • [Book] 信頼性・安全性の確保と未然防止2013

    • Author(s)
      鈴木和幸
    • Total Pages
      155
    • Publisher
      日本規格協会

URL: 

Published: 2015-05-28  

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