1987 Fiscal Year Annual Research Report
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61550466
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| Research Institution | Kyoto University |
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Principal Investigator |
花崎 紘一 京都大学, 工学部, 助教授 (20026123)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
塚田 和彦 京都大学, 工学部, 助手 (10179971)
藤中 雄三 京都大学, 工学部, 教授 (50025855)
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| Keywords | ワイヤロープ / 平行線ロープ / 残存強度 / シミュレーション / 引張試験 |
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| Research Abstract |
前年度(初年度)では構造が比較的簡単なパラレルワイヤストランド(PWS)ロープの腐食損傷の度合と残存強度の関係について実験的および理論的な考察を行って両者の関係を明らかにした. 今年度は構造が複雑なよりのある一般ロープについて曲げ疲労試験を行い, 疲労損傷の度合と残存強度の関係を実験的に調査した. すなわち電磁探傷による断面損傷の把握, 目視による外部の断線の把握, ロープ全体の伸びの変化などをシープによる繰かえし曲げ試験中に観測し, 各疲労段階での残存強度とそれらの観測データの関係を明らかにした. その結果ワイヤロープの構造(素線の数, 太さ, フィラー材質など)の違いによってとくに目視による外部断線と残存強度の関係が異なることが判明した. たとえばデルタフィラーと呼ばれる芯に細い鋼線が入った合成樹脂製のフィラーを挿入したロープでは外部断線の数とともに残存強度が低下して行くがデルタフィラーのない構造のロープでは内部がかなり損傷を受けていて残存強度が低下していても外部の断線はあまり目立たないことが判明した. これは目視による外部断線等の劣化状況の判断のみでは一概に残存強度を推定することができないことを示唆しており, そのロープの構造の違いなどによる劣化特性を前もって充分に検討して把握しておく必要があることを物語っている.
次年度ではこれらの関係を数値シミュレーションの手法などを用いて理論的に考察し, ロープの構造がわかればある程度劣化の特性が把握できる方法の開発を計画している.
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