シンクロトロ放射光電子解析による超微粒子電子状態の研究

1989 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 63420009
• Research Institution: The University of Tokyo
• Principal Investigator: 柿崎 明人 東京大学, 物性研究所, 助教授 (60106747)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 森 多美子 東京大学, 物性研究所, 教務職員 (70174373) ; 木下 豊彦 東京大学, 物性研究所, 助手 (60202040) ; 石井 武比古 東京大学, 物性研究所, 教授 (00004284) ; 谷口 雅樹 広島大学, 理学部, 助教授 (10126120) ; 曽田 一雄 東京大学, 物性研究所, 助手 (70154705)
• Keywords: マイクロクラスタ / 光電子分光 / イオン収量スペクトル / 電子状態 / シンクロトロン放射

Research Abstract

本研待の目的はシンクロトロン放射の持つ高強度、エネルギ-可変性、偏光性等の特長を活用し、これを励起光源として、電子状態に関して用も直接的情報を与える光電子分光、光電子収量、光吸収、イオン収量スペクトルを測定、解析して、現在未開拓のマイクロクラスタ-の電子構造を明きらかにすることである。
研究2年次の平成元年度は、前年度に製作、購入した全装置を調整し計測システムを準備して、シンクロトロン放射を光源とするイオン収量スペクトルの測定と、金属表面吸着クラスタ-の光電子分光実験を計画した。
このうち希ガスのイオン収量スペクトルの測定は、アンジュレ-タ放射を光源として行うことができた。その結果、真空紫外光領域で窓材を用いることなく,ガス圧10^<-8>Torr台の低い真空度でもイオン収量スペクトルが測定でき、Xe、Krのイオン化ポテンシャルしきい値近くのスペクトルから、アンジュレ-タと分光器を含む光学系の分解能を求めた。イオン収量スペクトルを用いるこの方法は、従来の金属のフェルミ端を測定する方法に較べて精度がよく、測定結果は“SRLーISSP Activity Report 1989"に報告される。また、一部は平成2年4月の日本物理学会年会のシンポジウムにも報告する予定である。
表面吸着クラスタ-の光電子分光実験は、試料の準備、計測系の整備を行っている段階である。