セルフチェッキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究

1988 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 63550270
• Research Institution: Tokyo Institute of Technology
• Principal Investigator: 南谷 崇 東京工業大学, 工学部, 助教授 (80143684)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 米田 友洋 東京工業大学, 工学部, 講師 (30182851) ; 当麻 喜弘 東京工業大学, 工学部, 教授 (50016317)
• Keywords: セルフチェッキング / VLSIテスト / 論理回路 / テスト容易化設計

Research Abstract

1)セルフチェッキング機能を具備した論理回路のチェッカ出力のみを観測して故障の有無を判定する新しいオフラインテスト方式の多重故障検出率を評価るすための道具として、SUN3/60Mデスクトップワークステーションの上で動作する多重故障シミュレータを開発した。
2)汎用セルフチェッキングプロセッサをバス、ALU、レジスタ部、制御部に機能分割し、バス及びALUについては2線式符号、レジスタ部と制御部については非順序分離符号を用いたセルフチェッキング化方式を検討した。その結果、非順序分離符号を用いた新しいセルフチェッキング組合せ回路の組織的構成法を提案した。
セルフチェッキング性は入力集合と論理関数に依存するため、次年度に、適当なヒューリスティクスを導入した設計支援システムを開発して、この方法を評価する予定である。
3)チェッカ出力の二つの符号語(0、1)と(1、0)の区別しない符号語無識別テストの能力を評価するため、多重故障シミュレータを用いて、いくつかの2線式論理組合せ回路に対する評価実験を行った。その結果、例えば、4ビットALUの場合、2重故障で99.99%以上高い検出率が得られることが明らになった。
4)符号語無識別テストの場合、符号語入力だけで検出されない故障に対しては、非符号語入力をテストベクトルとして用いることを前提としている。これに対して、チェッカ出力(0、1)と(1、0)を区別する符号語識別テストを新しく提案し、3)と同じ2線式論理による組合せ回路に対するシミュレーション実験によって、この方法の多重故障検出能力を評価した。その結果、符号語識別テストでは、非符号語入力を用いなくても、非符号語を用いた符号語無識別テストより高い多重故障検出能力を持つことが実験的に確認された。