メスバウアー分光学的マイクロアナライザー・X線分析器の開発

1988 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 63840013
• Research Institution: Tokyo Metropolitan University
• Principal Investigator: 佐野 博敏 東京都立大学, 理学部, 教授 (20086995)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 田口 堯雄 セイコー電子工業, 部長 ; 遠藤 和豊 東京都立大学, 理学部, 助教授 (50106598) ; 片田 元己 東京都立大学, 理学部, 助教授 (20094261)
• Keywords: 内部転換電子 / 特性X線 / 同時計数 / メスバウアースペクトル

Research Abstract

研究の初年度である本年度においては、内部転換電子とγ線との同時計数回路を組みたてコリメーターとその分解能の検討および同時計数のタイミング設定など種々の測定条件について検討した。また、測定用の試料の作成およびその評価についても併行して行なった。
右図に、内部転換電子とγ線との同時計数回路のブロック図を示す。Detectorは気体増幅比例計数管で内部転換電子を観測する。気体としてはHe-i-C_4H_<10>を用いた。NaI(Tl)はシンチレーションカウンターで、122KeVのγ線および各種のX線を測定するために使用する。シンチレーションカウンター系には、特定のγあるいはX線を導入し、同時計数のタイミングをとるための回路が付属しており、γ線と電子の同時計数の条件にあった信号だけがマルチチャンネル波高分析器に入力され、同時計数メスバウアースペクトルが観測される。スペクトルが観測されても試料表面のどの程度の局所からの情報が得られているのか精度よく同定することは難しく、スポットの検定のための標準試料として、特定の大きさのスポットを有す試料を作成し、電子顕微鏡やそれに付属している分析装置によりその大きさを決定しておく必要が生じた。そのための試料は、現在^<57>Fe濃縮鉄を用いて作成中である。さらに、次年度には、X線と内部転換電子との同時計数を行なうとともに、特性X線による共存元素の分析、同定を行なう予定である。