| 研究概要 |
本研究において得られた主な成果は次の通りである.
1)全可観測な環境での論理回路のテスト容易化設計
全可観測な環境でのテスト容易な論理回路として,k-UCNAND回路を提案し,更にこの一般化したモデルとしてk-UCP回路を提案した,対象故障は,縮退故障とスタックオープン故障であり,それぞれの場合について必要なテストパターン数はk+1,k(k+1)+1になることが示された.さらに,これを全可観測な順序回路に拡張し,それに対するテスト手法を提案した.
2)全可観測な環境でのテストパターン生成
全可観測な環境として,回路内部の信号線が観測可能であるという前提のもとでは,故障の影響を外部出力に伝搬させる必要がなく,故障検出に際して信号値が割り当てられる入力端子の数を少なくすることが可能になり,複数個の故障を同時に検出するテスト生成が容易になる.さらに,この手法を順序回路のテスト生成手法にも適用し,従来手法に比べてテストパターン数が十分少なくなることを示した.
3)全可観測な環障での故障診断
故障位置の指摘をするためには,故障表を実用的な大きさに圧縮する必要があり,本手法ではテストベクトルペアの印加に対する応答による故障候補の絞り込みと,電子ビームテスタにより故障位置の絞り込みを反複利用する.この手法は,観測容易化設計によらない通常の組合せ回路に対する取扱いが可能であり,対象故障として多重故障の存在を許している。また,この手法は直接故障表を用いないので、計算に必要な記憶容量も相対的に少なくてすむことが特長である.電子ビームテスタを用いる診断手法の一般化しとて,ガイデッド・プローブ法による故障診断法を提案し,ベンチマーク回路上での実験を行いその効率を評価した.
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