| 研究課題/領域番号 |
11355026
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 展開研究 |
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| 研究分野 |
金属物性
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
長村 光造 京都大学, 工学研究科, 教授 (50026209)
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| 研究分担者 |
黒川 修 京都大学, 工学研究科, 助手 (90303859)
酒井 明 京都大学, 工学研究科, 教授 (80143543)
奥田 浩司 奈良先端科学技術大学, 物質科学教育センター, 助教授 (50214060)
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| 研究期間 (年度) |
1999 – 2001
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| 研究課題ステータス |
完了 (2001年度)
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| 配分額 *注記 |
35,590千円 (直接経費: 35,200千円、間接経費: 390千円)
2001年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2000年度: 2,500千円 (直接経費: 2,500千円)
1999年度: 31,400千円 (直接経費: 31,400千円)
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| キーワード | 走査ホールプローブ顕微鏡 / 量子化磁束 / Bi2223 / 弱結合 / 高温超伝導体 / 磁界電流密度 / 磁束線格子 / イットリウム酸化物超伝導体 / Bi2223テープ / 臨界電流密度 |
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| 研究概要 |
1.量子化磁束線の観察:主としてY123被膜導体および多結晶体中の数個の結晶粒を含む局所領域の磁界分布を精密に計測し、粒界弱結合領域の磁界の乱れを直接観察することに成功した。さらにBi2223テープ材における数μm〜数10μmスケールの磁束分布の不均一性を検出し、試料のメゾスケール微細組織との相関を検討した。さらに中性子小角散乱強度、磁界中の超伝導特性との関連を調べた。
2.磁界/電流密度変換プログラムの開発:2種類のプログラムを開発した。(解析I)測定磁界分布から電流密度分布へ変換する方法。薄い試料に対して2次元磁界分布をBiot-Savartの法則のもとフーリエ変換することにより電流密度分布を求める。(解析II)理論電流密度分布から磁界分布へ変換し、実測の磁界と比較する。いずれのプログラムも現在実験の解析に用いられている。
3.磁束動的挙動の解明:高空間分解能型機能を利用して局所的磁束密度分布を精密に計測するとともに、SQUIDにより磁束測定を行い、YBCOおよびNdBCO試料中に形成されたピンニング中心との相関から磁束のピンニング機構と磁束クリープ現象を解明した。
4.臨界電流密度に不均質分布の解明:Bi系テープ線材を用いて、高時間分解能型機能を利用してサブミリメータスケールの磁束密度分布を計測し、それにより変換された局所的輸送臨界電流の不均質分布と微細組織との相関を明らかにした。
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