| 研究課題/領域番号 |
12J00512
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| 研究種目 |
特別研究員奨励費
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 国内 |
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| 研究分野 |
原子力学
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
大久保 雄司 大阪大学, 大学院工学研究科, 特別研究員(PD)
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| 研究期間 (年度) |
2012 – 2014-03-31
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| 研究課題ステータス |
採択後辞退 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
2,400千円 (直接経費: 2,400千円)
2013年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
2012年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
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| キーワード | 放射線化学 / 無電解めっき / 還元 / 電子線 / XAFS |
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| 研究概要 |
初年度は、電子線照射還元法によりプラスチック基板上に金属膜を作製することに成功したため、本年度は、放射線還元法により製膜した金属膜の解析に注力した。まず、出発原料水溶液へ投入するAuイオン濃度を三段階(2mM, 5mM, 40mM)に変化させ、得られたAu膜の変化を調査した。投入Au濃度により、Au膜の色が目視でもわかるほど異なった。見た目の変化の原因を明らかにするため、蛍光X線(XRF)分光測定により、プラスチック基板上のAu堆積量[mg/cm^2]を調査した。投入イオン濃度の増加に伴い、Au堆積量が増加していた。さらに、エネルギー分散型X線(EDX)分析装置を備えた走査型電子顕微鏡(SEM)により、放射線還元法で製膜したAu膜の表面を観察した。投入Au濃度を2mMにした場合は1μm以下の微細な粒子が大半を占めたが、投入Au濃度を5mMにした場合はAu粒子同士が数珠のように連なった。さらに投入Au濃度を高くすると、1μm以上の粒子が増加し微細な粒子が減少していた。これらの結果より、投入Au濃度により、Auめっき膜の構造が異なることが明らかになった。X線回折(XRD)測定により、Au膜の結晶性を評価した。Au (111)面、Au (200)面、Au (220)面、Au (311)面に帰属するピークのみが観察され、Au酸化物やAu塩化物を示すピークは観察されなかった。この結果より、放射線還元法で製膜したAu膜は、Au-metalの単相であることが明らかになった。次に、Au膜とプラスチック基板との間の密着力を評価するため、テープ剥離試験および超音波洗浄前後に、SEM-EDXによるAuマッピングを行った。超音波洗浄およびテープ剥離試験後であっても、プラスチック基板上ではAuが検出され、さらにAu膜はアイランド状になっておらず、Auが基板表面全体を被覆していた。これらの結果より、放射線還元法で作製されたAu膜は、耐剥離性に優れていることが明らかになった。
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| 今後の研究の推進方策 |
(抄録なし)
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