| 研究課題/領域番号 |
15K05103
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
素粒子・原子核・宇宙線・宇宙物理
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
谷口 秋洋 京都大学, 複合原子力科学研究所, 准教授 (10273533)
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| 研究協力者 |
ストラッサー パトリック
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2017年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2016年度: 520千円 (直接経費: 400千円、間接経費: 120千円)
2015年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
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| キーワード | 核電荷分布 / 不安定原子核 / ミュオン原子 / 重水素薄膜法 / ドライアイス薄膜 / オンライン同位体分離装置 / 放射性物質の挙動と回収 / 基板材表面と注入原子の相互作用 / 不安定核ミュオン原子 / ドライアイス模擬ターゲット / 放射性物質 / 挙動と回収方法 / 成膜条件の依存性 / 挙動と制御 |
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| 研究成果の概要 |
重水素薄膜法による不安定核ミュオン原子X線測定の実現に向け、技術上の基礎的知見を得るために、重水素薄膜の模擬としてのドライアイス薄膜とオンライン同位体分離装置からのRIビームを用いて、種々の条件で形成されたドライアイス薄膜中にRIを注入し、薄膜昇華の際のRIの挙動や回収法に関する実験が行われた。冷却トラップによる回収法に関しては、回収効率の薄膜形成条件の依存性は低く、トラップ側の幾何学的効率が主に効く見通しが得られた。また、ドライアイス昇華後の基板上にRIが残留する事象が認められ、昇華過程における基板材表面と注入原子間の化学的作用に因る残存の可能性が新たな検討課題として抽出された。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
ミュオン原子X線測定は核電荷半径の情報が得られる実験手法であり、本研究は、ミュオン原子の生成効率を飛躍的に高めた重水素薄膜法を不安定核実験に適用するための技術開発である。
模擬的にドライアイス薄膜を利用し、形成条件が異なる薄膜に注入されたRIの挙動や回収に関する研究が行われた。RI回収法に関しては、冷却トラップ方式が試され、回収効率を上げるためのトラップ側の条件が確認された。さらに、薄膜の昇華過程における基板材表面と注入原子間の化学的作用の可能性を、より効率を上げるための新たな検討課題として示すことができ、重水素薄膜法による不安定核の核電荷半径測定を実現するための技術上の知見が得られた。
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