| 研究課題/領域番号 |
15K12003
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
温 暁青 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (20250897)
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| 研究分担者 |
梶原 誠司 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)
宮瀬 紘平 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 (30452824)
Holst Stefan 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教 (40710322)
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| 研究協力者 |
Chakravarty K.
Tehranipoor M.
Girard P.
Wunderlich H.-J.
浜田 周治
Wang L.-T.
Jan M. E.
羽立 幸司
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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| 配分額 *注記 |
3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
2017年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2016年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2015年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
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| キーワード | LSI回路 / スキャンテスト / テスト電力 / シフト電力 / IR-Drop / クロック / シフトエラー / 誤テスト / LSIテスト / テスト電力制御 / 誤テスト回避 / 信号値遷移 / パス遅延 / クロックパス |
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| 研究成果の概要 |
本研究では、誤テストの原因として、(1) スキャンチェーンにおける隣接するFFペアのクロックパス近傍の信号遷移量の不均衡さ、及び、(2) 長い活性化機能パス近傍の信号遷移量の多さに着目し、レイアウト設計での配置配線を工夫することによって、誤テストを確実に回避するというレイアウトレベル誤テスト回避方式（L-FTA: Layout-Level False Test Avoidance）を提案した。ベンチマーチ回路によるシミュレーションやテストチップによる評価の結果によって提案方式の有効性を確認した。この斬新な発想に基づく高品質LSIテスト技術によって、次世代低電力 LSI 創出へ貢献が期待できる。
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