高電磁環境下での周期的多重過渡故障のオンラインマスク法

• 研究課題/領域番号: 15K21413
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 基金
• 研究分野: 計算機システム; 電力工学・電力変換・電気機器
• 研究機関: 日本大学
• 研究代表者: 新井 雅之 日本大学, 生産工学部, 准教授 (10336521)
• 研究期間 (年度): 2015-04-01 – 2018-03-31
• 研究課題ステータス: 完了 (2017年度)
• 配分額: 3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円); 2017年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円); 2016年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円); 2015年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
• キーワード: 同時多重過渡故障 / 双対近似回路 / クリティカルエリア / インバータスイッチングノイズ / 高電磁環境 / 多重過渡故障 / オンラインマスク / オンライン誤りマスク

研究成果の概要

本研究では，DC-ACインバータのスイッチングノイズによって引き起こされる，論理回路における過渡故障の検出手法について提案した．提案手法では，元の回路の一部の機能のみ等価な近似回路と，元の回路に対する双対な論理設計とを組合せた双対近似回路を導入する．小規模な回路に対するシミュレーションを行い，多重故障検出能力について評価した．
また，双対近似回路を適用する回路の特定およびテストのため，クリティカルエリアを考慮したテストパターン生成手法の高速化についても検討した．2段階テスト生成およびウインドウベースの探索により，従来手法と比較して40%のパターン数削減と10倍以上の高速化を実現した．

研究成果

• [雑誌論文] A Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector Manipulation (2017)
  • 著者名/発表者名: Toshinori HOSOKAWA, Atsushi HIRAI, Yukari YAMAUCHI, Masayuki ARAI
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Information and Systems 巻: E100.D 号: 9 ページ: 2118-2125
  • DOI: 10.1587/transinf.2016EDP7418
  • NAID: 130006038489
  • ISSN: 0916-8532, 1745-1361
  • 査読あり
• [雑誌論文] Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices (2017)
  • 著者名/発表者名: Yoshikazu Nagamura, Kenji Shiozawa, Toru Koyama, Jun Matsushima, Kazuhiko Tomonaga, Yutaka Hoshi, Shuji Nomura, Masayuki Arai, Kazuhiko Iwasaki
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 巻: 30 号: 4 ページ: 317-322
  • DOI: 10.1109/tsm.2017.2746089
  • 査読あり
• [雑誌論文] Fault masking issue on a dependable processor using BIST under highly electromagnetic environment (2017)
  • 著者名/発表者名: Aromhack Saysanasongkham, Satoshi Fukumoto, Masayuki Arai
  • 雑誌名: International Journal of Computational Science and Engineering 巻: 14 号: 4 ページ: 309-320
  • DOI: 10.1504/ijcse.2017.084681
  • 査読あり
• [雑誌論文] Reordering-Based Test Pattern Reduction Considering Critical Area-Aware Weighted Fault Coverage (2017)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Arai, Kazuhiko Iwasaki
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: E100.A 号: 7 ページ: 1488-1495
  • DOI: 10.1587/transfun.E100.A.1488
  • NAID: 130007311790
  • ISSN: 0916-8508, 1745-1337
  • 査読あり
• [学会発表] Spare-Tile-Based Dependable Logic Design for Sea-of-Tiles Architecture with Ambipolar Devices (2017)
  • 著者名/発表者名: Dan Takahashi, Masayuki Arai
  • 学会等名: IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017)
  • 発表場所: Christchurch, New Zealand
  • 年月日: 2017-01-22
  • 国際学会
• [学会発表] Erasure-Code-Based DTN Multi-Path Routing for Contact Avoidance (2017)
  • 著者名/発表者名: Hironori Arai, Masayuki Arai
  • 学会等名: IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017)
  • 発表場所: Christchurch, New Zealand
  • 年月日: 2017-01-22
  • 国際学会
• [学会発表] Layout-Aware 2-Step Window-based Pattern Reordering for Fast Bridge/Open Test Generation (2017)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Arai, Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki
  • 学会等名: International Test Conference
  • 国際学会
• [学会発表] A Dynamic Test Compaction Method on Low Power Test Generation Based on Capture Safe Test Vectors (2017)
  • 著者名/発表者名: Toshinori Hosokawa, Atsushi Hirai, Hiroshi Yamazaki and Masayuki Arai
  • 学会等名: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
  • 国際学会
• [学会発表] Data Aggregation on Smart Grid Communications Considering Fault Tolerance and Privacy (2017)
  • 著者名/発表者名: Ryota Ogasawara, Masayuki Arai
  • 学会等名: International Future Energy Electronics Conference (IFEEC) - ECCE Asia
  • 国際学会
• [学会発表] Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices (2016)
  • 著者名/発表者名: Yoshikazu Nagamura, Kenji Shiozawa, Toru Koyama, Jun Matsushima, Kazuhiro Tomonaga, Yutaka Hoshi, Shuji Nomura, Masayuki Arai, Kazuhiko Iwasaki
  • 学会等名: International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2016-12-12
  • 国際学会
• [学会発表] Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering (2016)
  • 著者名/発表者名: Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki, Masayuki Arai
  • 学会等名: IEEE Asian Test Symposium (ATS 2016)
  • 発表場所: Hiroshima, Japan
  • 年月日: 2016-11-22
  • 国際学会
• [学会発表] Note on Dependable Logic Design by Ambipolar Device and Its Fault Modeling (2015)
  • 著者名/発表者名: Dan Takahashi, Masayuki Arai
  • 学会等名: IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT 2015)
  • 発表場所: Mumbai, India
  • 年月日: 2015-11-25
  • 国際学会
• [学会発表] Note on Fast Bridge Fault Test Generation Based on Critical Area (2015)
  • 著者名/発表者名: Masayuki Arai, Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki
  • 学会等名: 15th International Conference on Algorithms and Architectures for Parallel Processing
  • 発表場所: Zhanjiajie, P.R. China
  • 年月日: 2015-11-18
  • 国際学会
• [学会発表] 物理的なテストカバレッジ (物理カバー率) の検証方法の開発 (2015)
  • 著者名/発表者名: 永村美一, 小山徹, 松嶋潤, 朝永和洋, 星豊, 野村周司, 岩崎一彦, 新井雅之
  • 学会等名: 第36回ナノテスティングシンポジウム
  • 発表場所: 千里ライフサイエンスセンター（大阪府豊中市)
  • 年月日: 2015-11-11
• [学会発表] Testbeds of a Hybrid-ARQ-Based Reliable Communication for CANs in Highly Electromagnetic Environments (2015)
  • 著者名/発表者名: Muneyuki Nakamura, Mamoru Ohara, Aromhack Saysanasongkham, Masayuki Arai, Kazuya Sakai, Satoshi Fukumoto, Keiji Wada
  • 学会等名: IEEE Future Energy Electronics Conference (IFEEC 2015)
  • 発表場所: Taipei, ROC
  • 年月日: 2015-11-01
• [学会発表] A low capture power test generation method using capture safe test vectors (2015)
  • 著者名/発表者名: Atsushi Hirai, Toshinori Hosokawa, Yukari Yamauchi, Masayuki Arai
  • 学会等名: IEEE European Test Symposium
  • 発表場所: Cluj-Napoca, Romania
  • 年月日: 2015-05-23