| 研究課題/領域番号 |
16K00074
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 愛媛大学 |
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研究代表者 |
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
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| 研究分担者 |
大竹 哲史 大分大学, 理工学部, 教授 (20314528)
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654)
王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円)
2018年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2017年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2016年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
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| キーワード | 故障検査 / 組込み自己診断 / 組込み自己テスト / 機能安全 / 組込み自己診断法 / LSIのテスト / 先進自動運転 / 故障診断 / 先進運転支援システム / 計算機システム / ディペンダブル・コンピューティング |
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| 研究成果の概要 |
本研究では，先進運転支援システムにおける機能安全規格準拠したシステムの信頼性を確保するために，パワーオン時や待機時の組込み自己テストに適用するマルチサイクルテストの故障検出率向上化法，および組込み自己診断機構（BISD）を提案する．具体的には，故障検出強化フリップフロップによる中間観測を導入したマルチサイクルテスト法を提案した。また，フィールドでの劣化による遅延故障箇所の特定を指向したBISDを開発した。提案機構は事前に生成した期待署名をメモリに持つことなく，動的に期待署名を生成しながら遅延故障診断テストを行う。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
本研究の成果は，先進運転支援システムなどの次世代システムの機能安全レベルの向上に対して意義がある。具体的には，車載集積回路におけるテスト時間の制約および組込み自己診断機構の付加回路面積の制約を満たして，故障検出率並びに故障診断分解能を向上できる仕組みを提案したことである。この研究の社会的な意義は，次世代システムの機能安全技術のための基盤を確立できたことである。また，研究成果の学術的な意義は，世界的にも競争的な研究領域であるが，提案手法の新規性並び有効性が高く評価されたので，本研究の成果が当該分野で最も権威のある論文誌に採録されたことである。
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