| 研究課題/領域番号 |
16K04968
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 一般財団法人総合科学研究機構(総合科学研究センター(総合科学研究室)及び中性子科学センター(研究開発 |
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研究代表者 |
水沢 多鶴子 一般財団法人総合科学研究機構(総合科学研究センター(総合科学研究室)及び中性子科学センター(研究開発, 中性子科学センター, 研究員 (90624536)
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| 研究分担者 |
山崎 大 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 J－PARCセンター, 研究副主幹 (80391259)
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| 研究協力者 |
桜井 健次
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2018年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2017年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2016年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
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| キーワード | 埋もれた界面 / 反射率 / イメージング / 中性子 / 固液界面 / 金薄膜 / 中性子反射率 / 可視化 / 表面・界面物性 / 量子ビーム |
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| 研究成果の概要 |
中性子反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の構造を原子レベルの分解能で決定できる精度を有しているが、ビームを1度以下の視斜角で照射するため、広い領域の平均情報を得ることになり、不均一試料の局所的な構造解析は困難である。局所的な構造を調べるためにはイメージング法が有効である。白色パルス中性子を用いれば、深さ方向の波数ヴェクトルQzの広い領域で迅速にイメージングを行うことができる。本研究では白色パルス中性子を用いた中性子反射率イメージングの方法により金電極と電解質水溶液界面の電気二重層の面内の不均一な構造を解析する。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
深さ方向に原子レベルの分解能を有し、軽元素や磁性に感度のある中性子反射率法は、表面・界面の分析方法として有用であるが、局所領域の中性子反射率法は実現しておらず、特にmm2以下の微小領域の解析はなされていない。この研究では大強度のパルス中性子の特性を生かして微小領域の中性子反射率測定を可能にする。電極／電解質界面の構造解析にこの方法を応用し、電気二重層における電極の表面形状と電解質中のイオン・分子の吸着構造の関係を直接観察することにより、電極反応に及ぼす電極／電解質界面構造の影響について知見を得ることができる。
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