| 研究課題/領域番号 |
16K17540
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
量子ビーム科学
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| 研究機関 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 |
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研究代表者 |
松村 大樹 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 原子力科学研究所 物質科学研究センター, 研究主幹 (30425566)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
2017年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2016年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
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| キーワード | X線吸収分光 / XAFS / ニオブ酸化物 / Debye-Waller因子 / X線吸収微細構造 / ペロブスカイト型構造 / 局所歪 / 分散型光学系 / 実時間分割測定 / 放射光 |
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| 研究成果の概要 |
分散型光学系を持つX線吸収分光（XAFS）測定システムに対して光学系の安定化作業を行い、局所歪に敏感なDebye-Waller因子の精密測定を実施した。ペロブスカイト型構造を持つニオブ酸化物を対象として、大型放射光施設（SPring-8)において、Debye-Waller因子の温度依存性の精密測定を行った。結果、構造相転移点の近傍において、100 K以上の広い領域に亘ってDebye-Waller因子の値の変化を観測し、幅広い温度にて局所構造が徐々に変化していることを明らかにした。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
本研究によってX線吸収分光測定システムの高度化がなされ、高い相対精度でX線吸収分光データを計測することが可能になった。特に、Debye-Waller因子の温度依存性を精密測定することが可能になったことで、各種機能性材料に対して、これまで検知することができなかった微細な構造歪を見出すことができる可能性を提供した。本システムは温度だけでなく、雰囲気、磁場等の外部要因との組み合わせを行うことが容易であり、多くの材料においてその場計測を始めとする高度構造解析への道筋を開いた。
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