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意図的な電磁妨害によるフォールト攻撃に対抗するレイヤ縦断型対策技術の開発(国際共同研究強化)

研究課題

研究課題/領域番号 16KK0006
研究種目

国際共同研究加速基金(国際共同研究強化)

配分区分基金
研究分野 情報セキュリティ
研究機関奈良先端科学技術大学院大学 (2017, 2019)
東北学院大学 (2016)

研究代表者

林 優一  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)

研究期間 (年度) 2017 – 2019
研究課題ステータス 完了 (2019年度)
配分額 *注記
13,390千円 (直接経費: 10,300千円、間接経費: 3,090千円)
キーワード故障利用解析 / サイドチャネル攻撃 / 意図的電磁妨害 / 電磁情報セキュリティ / 情報学 / 情報セキュリティ
研究成果の概要

本研究では、IoTデバイスなどにもその組み込みが加速している暗号モジュールに対して実行される最も強力な実装攻撃の1つである電磁波妨害を用いた故障利用攻撃に焦点をあて、研究代表者の有する下位レイヤの知見と国際共同研究機関であるKU Leuvenの有する上位レイヤの知見を有機的に結合させ、上述した攻撃に対する抜本的な対策技術の開発を行った。

研究成果の学術的意義や社会的意義

実装攻撃に関しては攻撃が多様化しており、セキュアな暗号モジュール設計や、学会などで示される新たな解析法や対策法を実装するためには、プロトコルレベルの知識から、暗号モジュールを実装するハードウェア設計の知識に至るレイヤを縦断した幅広い知識が要求される。一方、各レイヤに関する知見は単一の分野でのカバーは難しく、分野間の連携が必要となることから、研究代表者の有する下位レイヤの知見と国際共同研究機関であるKU Leuvenの有する上位レイヤの知見を有機的に結合させ、上述した攻撃に対する抜本的な対策技術の開発を行った。

報告書

(2件)
  • 2019 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 研究成果

    (9件)

すべて 2020 2019 2017

すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (5件) (うち国際共著 4件、 査読あり 5件) 学会発表 (3件) (うち国際学会 1件、 招待講演 1件)

  • [国際共同研究] KU Leuven(ベルギー)2017

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [雑誌論文] Design Considerations for EM Pulse Fault Injection2020

    • 著者名/発表者名
      Beckers Arthur、Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi、Fujimoto Daisuke、Balasch Josep、Gierlichs Benedikt、Verbauwhede Ingrid
    • 雑誌名

      International Conference on Smart Card Research and Advanced Applications. Springer

      巻: 11833 ページ: 176-192

    • DOI

      10.1007/978-3-030-42068-0_11

    • ISBN
      9783030420673, 9783030420680
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Characterization of EM Faults on ATmega328p2019

    • 著者名/発表者名
      Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Saki Osuka, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi, Ingrid Verbauwhede
    • 雑誌名

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      巻: 99 ページ: 820-823

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Fundamental Study on Randomness Evaluation Method of RO-Based TRNG Using APD2019

    • 著者名/発表者名
      Saki Osuka, Daisuke Fujimoto, Naofumi Homma, Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Ingrid Verbauwhede, Yuichi Hayashi
    • 雑誌名

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      巻: 99 ページ: 244-244

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Electromagnetic Information Security Demanded by Social Infrastructure Constructed by Information Devices2019

    • 著者名/発表者名
      Yuichi Hayashi, William Radasky
    • 雑誌名

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      巻: 99 ページ: 788-788

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] A Method for Distinguishing Faulty Bytes in Cryptographic Device Using EM Information Leakage2019

    • 著者名/発表者名
      Mitsuki Takenouchi, Naoto Saga, Yuichi Hayashi, Takaaki Mizuki, Hideaki Sone
    • 雑誌名

      2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      巻: 99 ページ: 669-669

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] TERO-based TRNGに対する周波数注入攻撃時の出力ビット推定手法に関する基礎検討2019

    • 著者名/発表者名
      大須賀 彩希, 藤本 大介, 林 優一
    • 学会等名
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] EM Information Leakage Threat Caused by Low-power IEMI and Hardware Trojan2019

    • 著者名/発表者名
      Yuichi Hayashi
    • 学会等名
      The 2019 IEEE International Symposium on EMC+SIPI
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] 順序回路への故障注入に起因した不均一な頻度分布を持つ誤り出力を用いた故障利用解析2019

    • 著者名/発表者名
      岡本拓実, 藤本大介, 崎山一男, 李 陽, 林 優一
    • 学会等名
      ハードウェアセキュリティ研究会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書

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公開日: 2017-03-15   更新日: 2021-02-19  

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