| 研究課題/領域番号 |
18500039
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 徳島大学 |
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研究代表者 |
橋爪 正樹 徳島大学, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 (40164777)
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| 研究期間 (年度) |
2006 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
4,030千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 630千円)
2008年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2007年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2006年度: 1,300千円 (直接経費: 1,300千円)
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| キーワード | SoC, SiP / ディペンダブルコンピューティング / 断線 / 短絡 / 電流テスト / SoC / SiP / CMOS / リード浮き / マイクロコンピュータ |
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| 研究概要 |
SoC(System on a Chip), SiP(System in Package)というICおよびそれらを用いた回路製造時に断線や短絡故障が発生する。近年, それらの応用製品の高信頼化要求が高まり, それらの故障を確実に発見する検査法の開発が求められている。本研究ではIC, 回路への電源電流測定によりそれを実現する検査法と検査回路の開発を行い, 従来では見逃す故障も発見できることを明らかにした。
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