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誤りからの自己回復機能を持つSoCベース・ディペンダブル・プロセッサの基礎的検討

研究課題

研究課題/領域番号 18500041
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関首都大学東京

研究代表者

福本 聡  首都大学東京, システムデザイン研究科, 准教授 (50247590)

研究分担者 岩崎 一彦  首都大学東京, システムデザイン研究科, 教授 (40232649)
新井 雅之  首都大学東京, システムデザイン研究科, 助教 (10336521)
研究期間 (年度) 2006 – 2008
研究課題ステータス 完了 (2008年度)
配分額 *注記
3,980千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 480千円)
2008年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2007年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2006年度: 1,900千円 (直接経費: 1,900千円)
キーワード過渡故障 / ソフトエラー / 同時多重故障 / 時空間冗長プロセッサ / 性能評価尺度 / 信頼性評価尺度 / 確率モデル / FPGA / 時間冗長プロセッサ / コンデンサ放電 / 電磁波
研究概要

誤りからの自己回復機能を持つディペンダブル・プロセッサを実現するための基礎的検討をおこなった. 過渡的な誤りがプロセッサのクロック信号系だけに同時多重に作用する故障モデル, および, 組合せ回路部分だけに同時多重に作用する故障モデルのそれぞれに対するディペンダブル・プロセッサ構成方法の有効性と限界についての知見を得た. また, 種々の耐故障プロセッサの性能・信頼性を解析的に評価するための統一的なモデルとなり得る確率モデルを提案した

報告書

(4件)
  • 2008 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2007 実績報告書
  • 2006 実績報告書
  • 研究成果

    (21件)

すべて 2009 2008 2007 2006

すべて 雑誌論文 (6件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (15件)

  • [雑誌論文] 安全・安心のための半導体設計・テスト技術2007

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 雑誌名

      OR学会誌 Vol.52

      ページ: 409-415

    • NAID

      110006317655

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書 2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Time Redundancy Processor with a Tolerance to Transient Faults Caused by ElectromagneticWaves2007

    • 著者名/発表者名
      M. Kimura, M. Arai, S. Fukumoto, and K. Iwasaki
    • 雑誌名

      Proceedings of Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing

      ページ: 248-254

    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 安全・安心のための半導体設計・テスト技術2007

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 雑誌名

      日本オペレーションズリサーチ学会第57回シンポジウム No.57

      ページ: 71-78

    • NAID

      110006317655

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Time Redundancy Processor with the Tolerance to Transient Faults Caused by Electromagnetic Waves2007

    • 著者名/発表者名
      M.Kimura, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
    • 雑誌名

      Proceedings in Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing in the framework of DSN-2007. (掲載決定)

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] 過度故障に耐性を持つ時間冗長プロセッサの検討2006

    • 著者名/発表者名
      木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告書(DC 研究会) DC2006-14(2006-8)

      ページ: 13-18

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] ディペンダブルVLSI2006

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 雑誌名

      第10回システムLSIワークショップ講演資料集 No.10

      ページ: 171-180

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提にレジスタを二重化した順序回路2009

    • 著者名/発表者名
      丸本耕平, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      電子情報通信学会総合大会
    • 年月日
      2009-03-17
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提にレジスタを重化した陣所回路2009

    • 著者名/発表者名
      丸本耕平, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について2008

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      サンライフ萩
    • 年月日
      2008-12-12
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について2008

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      サンライフ萩
    • 年月日
      2008-12-12
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する一考察2008

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      国立情報学研究所
    • 年月日
      2008-10-20
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する-考察2008

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      国立情報学研究所
    • 年月日
      2008-10-20
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計2008

    • 著者名/発表者名
      木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2008-06-20
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計2008

    • 著者名/発表者名
      木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2008-06-20
    • 関連する報告書
      2008 実績報告書
  • [学会発表] CMOS LSIのESD/Latch-up故障の解析-実データでの故障モード解析-2008

    • 著者名/発表者名
      小日向秀雄, 新井雅之, 福本聡
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2008-02-08
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] CMOSLSIのESD/Latch-up故障の解析-実データでの故障モード解析2008

    • 著者名/発表者名
      小日向秀雄, 新井雅之, 福本聡
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] Time Redundancy Processor with the Tolerance to Transient Faults Caused by Electromagnetic Waves2007

    • 著者名/発表者名
      M. Kimura, M. Arai, S. Fukumoto, K. Iwasaki
    • 学会等名
      Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing
    • 発表場所
      Edinburgh, UK
    • 年月日
      2007-06-01
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価2007

    • 著者名/発表者名
      丸本耕平, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
    • 学会等名
      第6回情報科学技術フォーラム(FIT2007)
    • 発表場所
      中京大学
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書 2007 実績報告書
  • [学会発表] 安全・安心のための半導体設計・テスト技術2007

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 学会等名
      日本オペレーションズリサーチ学会第57回シンポジウム
    • 発表場所
      鳥取大学(No.57)
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] ディペンダブルVLSI2006

    • 著者名/発表者名
      福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
    • 学会等名
      第10回システムLSIワークショップ講演資料集
    • 発表場所
      北九州(No.10)
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書
  • [学会発表] 過渡故障に耐性を持つ時間冗長プロセッサの検討2006

    • 著者名/発表者名
      木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告書
    • 発表場所
      高知
    • 関連する報告書
      2008 研究成果報告書

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公開日: 2006-04-01   更新日: 2016-04-21  

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