| 研究課題/領域番号 |
19500047
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
温 暁青 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (20250897)
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| 研究分担者 |
梶原 誠司 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (80252592)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2009年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2008年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2007年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | LSIテスト / 高信頼化 |
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| 研究概要 |
本研究では、LSI回路の実速度スキャンテストのキャプチャモードにおける誤動作の主な原因として、テスト入力で活性された長いパスの近傍(クリティカルエリア)の過度な電圧降下(IR-Drop)によるパス遅延の増加にあることに突き止めた。これに基づいて、長いパスの活性化情報、近傍情報、及び状態遷移情報を反映したCCT(Critical Capture Transition)という評価基準を提案し、テスト入力ごとの誤動作の予測を可能にした。更に、クリティカルエリアに影響を与える冗長ビットを抽出し、それにそのクリティカルエリア内のキャプチャ電力を減少させる論理値を決定する手法を提案した。これによって、誤テスト問題の根本原因を解決する高度な誤テスト回避方式を確立した。
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