| 研究課題/領域番号 |
19500048
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 広島市立大学 |
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研究代表者 |
井上 智生 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 (40252829)
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| 研究分担者 |
市原 英行 広島市立大学, 情報科学研究科, 准教授 (50326427)
吉川 祐樹 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教 (50453212)
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| 連携研究者 |
市原 英行 広島市立大学, 情報科学研究科, 准教授 (50326427)
吉川 祐樹 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教 (50453212)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2009年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2008年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2007年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
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| キーワード | 設計自動化 / テスト容易化設計 / VLSI-CAD / システムオンチップ.ディペンダブル・コンピューティング / テスト生成 / システムオンチップ / ディペンダブル・コンピューティング |
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| 研究概要 |
本研究では,テスト容易な順序回路のクラスとして,部分スルー可検査順序回路を提案した.このクラスは,無閉路可検査性を満たす従来の完全スルー可検査順序回路のクラスを真に包含する.さらに,部分スルー可検査順序回路に対する効率的なテスト生成法,ならびに,このクラスに基づくテスト容易化設計法を提案した.提案法は,今日の主流であるフルスキャン設計に比べて小さいオーバーヘッドで完全な故障検出効率を達成できる.
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