| 研究課題/領域番号 |
19560024
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
後藤 康仁 京都大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (00225666)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2008年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2007年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
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| キーワード | 電界放出 / その場解析 / 特性揺らぎ / 電界放射顕微鏡像 / 切片傾きチャート / ファウラー-ノルドハイムプロット / 電流変動 / 同時取り込み / FEM像 / SKチャート / FNプロット / その場特性解析 |
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| 研究概要 |
電界放出素子の特性ゆらぎの要因解析のために、電子放出その場特性評価装置の開発を行った.高速A/D変換ボードとCCDカメラをPCに接続し、実験装置とのインターフェースの開発を行った.電流と電圧の値をアナログ回路で一旦解析しやすい数値に変換する方法と直接PCに記録してソフトで解析する方法を検討し、それぞれの長所、短所を明らかにした.また、CCDカメラに記録した電界放射顕微鏡像と電流変動を対応付づけた.
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