| 研究課題/領域番号 |
19560335
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
電子デバイス・電子機器
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| 研究機関 | 千葉大学 |
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研究代表者 |
伊藤 秀男 千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 教授 (90042647)
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| 研究分担者 |
難波 一輝 千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 助教 (60359594)
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2009
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| 研究課題ステータス |
完了 (2009年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2009年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2008年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2007年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
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| キーワード | 回路設計 / CAD / ソフトエラー / VLSI / ラッチ / スキャン設計 / テスト容易化設計 / 遅延故障 / テスト容易化 / シグナルインテグリティ / 2線式論理 / FPGA / スキャンFF |
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| 研究概要 |
ソフトエラー(以下SEと略記)とは,VLSIがα線や宇宙線を受けることにより発生する一次的誤りである.本研究では,(a)SE対策VLSI回路の考案と,(b)SE対策VLSI回路のテストとテスト容易化設計についての研究成果を得た.(a)では,組合せ回路部で発生したSEパルスをマスクする方法や耐ソフトエラーラッチまたはフリップフロップの設計などを,(b)では,SE対策FFの遅延故障テスト容易化スキャン構造の提案などの成果を得た.
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