テスト支援回路の故障影響度解析と耐故障設計に関する研究

• 研究課題/領域番号: 19700044
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 広島市立大学
• 研究代表者: 市原 英行 広島市立大学, 大学院・情報科学研究科, 准教授 (50326427)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2008
• 研究課題ステータス: 完了 (2008年度)
• 配分額: 2,430千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 330千円); 2008年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2007年度: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円)
• キーワード: 設計自動化 / ディペンダブルコンピューティング / BIST / フォールトトレラント / 組込自己テスト / LSIテスト / フォールトトレランス / 巡回符号 / MISR / オンラインテスト / ディペンダプルコンピューティング / VLSIテスト / 耐故障設計 / 歩留まり / モデル化 / 設計工学 / アルゴリズム

研究概要

LSIの組込自己テスト(Built-in Self Test: BIST)のための,耐故障性をもつ新しい応答圧縮器(BISTを行うための構成要素であり,テスト結果を保持する回路)である符号化応答圧縮器を提案した.符号化応答圧縮器は壊れている状態でも,テスト対象回路の故障は必ず検知でき,さらにテスト対象回路が正常である場合は高い確率で応答圧縮器の故障を検知できる.また,必要なハードウェアサイズは従来の耐故障性を考えない応答圧縮器に比べて1.6倍程度であった.

研究成果

• [学会発表] 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について (2009)
  • 著者名/発表者名: 深澤祐樹
  • 学会等名: 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 首都大学東京サテライトキャンパス
  • 年月日: 2009-04-21
• [学会発表] 組込み自己テストにおける応答圧縮器の自己診断能力について (2009)
  • 著者名/発表者名: 市原英行
  • 学会等名: FTC研究会
  • 発表場所: 山形
• [学会発表] 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について (2009)
  • 著者名/発表者名: 市原英行
  • 学会等名: 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京