| 研究課題/領域番号 |
19K20234
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| 研究種目 |
若手研究
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| 配分区分 | 基金 |
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小区分60040:計算機システム関連
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| 研究機関 | 愛媛大学 |
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研究代表者 |
王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
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| 研究期間 (年度) |
2019-04-01 – 2023-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2022年度)
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| 配分額 *注記 |
3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
2021年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2020年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2019年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
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| キーワード | 論理再構成デバイス / 信頼性設計 / テスト / 劣化検知 / 多重故障 / 劣化遅延計測 / 時間展開回路のテスト容易性 / 深層強化学習 / ディペンダブルコンピューティング / MRLD / LUT / Field Test / Edge Device / 劣化 / RO / 信頼性 / 論理再構成 / フィールドテスト / IoT / エッジデバイス / 故障検知 / 障害予告 |
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| 研究開始時の研究の概要 |
あらゆるモノが繋がるIoT環境では，多種多様なエッジデバイスがネットワークを介してクラウドと接続することで膨大なデータ収集と解析処理をリアルタイムに行っている。一方，エッジデバイスでの経年が要因になる劣化故障は，デバイスの予告なし「誤作動」や「停止」等の障害を引き起す恐れがあり，システム全体の信頼性に多大な影響を及ぼす。本研究では，IoT向けの高性能エッジデバイスとして新規に開発された再構成論理デバイスMRLD(Memory-based Reconfigurable Logic Device）を対象にして，稼働時の劣化故障に対する早期検出及び障害予告のできる高信頼化技術を開発する。
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| 研究成果の概要 |
本研究では、次世代エッジデバイスとして開発が進むMPD（Memory-based Programable Device）の製造から運用、リタイアまでのライフサイクル全体での高信頼性を向上させる技術を確立した。主な成果は以下の通りである。①MPDデバイスの製造段階の歩留まり向上のために、メモリセル間の接続配線故障に対する高品質な検出と箇所特定可能診断用テスト生成法を確立した。②デバイス運用中の高信頼化のためのマルチサイクルパワーオンセルフテストを確立した。③MPDデバイス動作中の劣化検知技術（発振・計数一体式再構成可能遅延計測回路）を提案し、MRDデバイスでの実装方法を確立した。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
IoT技術の普及により、高性能・高信頼性のエッジデバイスが必要となっている。次世代エッジデバイスとして開発が進むMPD（Memory-based Programable Device）は、稼働中の異常に対する「予防」、「検知」、「回復」の信頼性要件を満たさなければならない。本研究では、MPDの製造から運用、リタイアまでのライフサイクル全体での高信頼性を向上させる技術を確立し、激化する次世代エッジデバイスの研究開発競争において、日本発の信頼性の高いMPD技術の普及を加速することに貢献する。
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