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MOS構造表面の吸着分子に対する触媒会合化学反応のゲート電圧による電子制御

研究課題

研究課題/領域番号 19K22130
研究種目

挑戦的研究(萌芽)

配分区分基金
審査区分 中区分29:応用物理物性およびその関連分野
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

服部 賢  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 准教授 (00222216)

研究分担者 桃野 浩樹  米子工業高等専門学校, その他部局等, 助教 (40882527)
研究期間 (年度) 2019-06-28 – 2022-03-31
研究課題ステータス 完了 (2021年度)
配分額 *注記
6,370千円 (直接経費: 4,900千円、間接経費: 1,470千円)
2021年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2020年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2019年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
キーワード電子制御 / 会合脱離反応 / MOS構造 / 吸着分子 / ゲート電圧 / 表面吸着分子 / 会合反応
研究開始時の研究の概要

本研究は、金属層/酸化膜/半導体(MOS)デバイスでの『触媒化学反応の電子制御』実現のため、「MOS表面上の吸着分子の電子励起による会合反応を実証する」ことを目的としています。
会合反応には活性化障壁があり通常、熱エネルギーで障壁を乗り越えます。熱ではなく、【ゲート電圧印加時に酸化膜をトンネルして金属層に注入する電子正孔キャリアの】電子励起エネルギーで障壁を乗り越え、化学反応を促進させるのが本研究のアイデアです。
実験では、金属層表面に分子を吸着させ、ゲート電圧印加時に会合反応を通して脱離する異分子を質量分析計で捉えます。

研究成果の概要

本研究では、コンピューター等に入っているシリコン半導体デバイスの基本機能を、化学分子反応に展開することに挑戦しました。本研究のアイデアは、半導体中を流れる電子(または正孔)のエネルギー利用して、表面に吸着した気体分子の会合反応や脱離反応を起こさせようというものです。
本研究では、金属/酸化物/半導体の積層構造を作製し、積層構造の両端への電圧印加で、エネルギーをもつ電子を金属層に注入することにより、金属層表面に吸着会合したガス分子の電子励起脱離反応の誘導に成功しました。

研究成果の学術的意義や社会的意義

本研究成果の学術的意義は、コンピューターに使われるトランジスタ素子を、全く異なる視点で触媒化学反応デバイスに応用できることを示し、言わば、電気電子工学分野と分子化学合成分野を融合した体系の芽を出させた点にあります。また、社会的意義は、今までの熱反応を利用した分子合成ではできない複雑で貴重な分子を、電子励起という非熱平衡アプローチで製造し得ることを示した点で、分子の化学反応を制御する夢の触媒シリコンデバイスを目指す初端と位置付けられます。

報告書

(4件)
  • 2021 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2020 実施状況報告書
  • 2019 実施状況報告書
  • 研究成果

    (7件)

すべて 2021 2019

すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (6件) (うち国際学会 2件)

  • [雑誌論文] Growth of Fe Islands on Clean and Ammonia-saturated Si(111)7 × 7 Surfaces Studied by in situ Electron Diffraction2021

    • 著者名/発表者名
      Pamasi Liliany Noviyanty、Nishida Shota、Takemoto Shohei、Hattori Ken
    • 雑誌名

      Journal of the Physical Society of Japan

      巻: 90 号: 3 ページ: 034601-034601

    • DOI

      10.7566/jpsj.90.034601

    • NAID

      210000158850

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書 2020 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Challenge of molecular reaction induced by hot carriers on MOS structure2021

    • 著者名/発表者名
      Haobang Yang, Mio Nishida, Higashi Takaaki, Aydar Irmikimov, and Ken Hattori
    • 学会等名
      日本物理学会第76回年次大会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Trail for CO Oxidation reaction induced by hot carriers on Pd-MOS structure2021

    • 著者名/発表者名
      Haobang Yang, Mio Nishida, Aydar Irmikimov, and Ken Hattori
    • 学会等名
      日本物理学会2021年秋季大会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Challenge of CO oxidation induced by hot carrier on Pd/Si/SiO2 MOS structure2021

    • 著者名/発表者名
      Haobang Yang, Mio Nishida, Aydar Irmikimov, and Ken Hattori
    • 学会等名
      2021年日本表面真空学会学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Challenge of molecular reaction induced by hot carriers on MOS structure2021

    • 著者名/発表者名
      Haobang Yang, Mio Nishida, Takaaki Higashi, Aydar Irmikimov, Ken Hattori
    • 学会等名
      日本物理学会 第76回年次大会
    • 関連する報告書
      2020 実施状況報告書
  • [学会発表] Growth of Fe islands on Si(111)7x7 surfaces modified with ammonia2019

    • 著者名/発表者名
      L.N. Pamasi, S. Takemoto, H. Yang, S. Nishida, K. Hattori, H. Daimon
    • 学会等名
      International Vacuum Conference (IVC)-21
    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Difference in growth mode of Fe islands on clean and ammonia-saturated Si(111)7x7 surfaces2019

    • 著者名/発表者名
      Liliany Noviyanty Pamasi, Haoyu Yang, Shota Nishida, Shohei Takemoto, Ken Hattori, and Hiroshi Daimon
    • 学会等名
      12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19
    • 関連する報告書
      2019 実施状況報告書
    • 国際学会

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公開日: 2019-07-04   更新日: 2023-01-30  

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