| 研究課題/領域番号 |
20710048
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
放射線・化学物質影響科学
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| 研究機関 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 |
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研究代表者 |
藤井 健太郎 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 先端基礎研究センター, 副主任研究員 (00360404)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| 研究課題ステータス |
完了 (2010年度)
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| 配分額 *注記 |
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2010年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2009年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2008年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
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| キーワード | クラスターDNA損傷 / 軟X線 / イオン / 質量分析 / 電離放射線 / DNA / クラスター損傷 / 放射光 |
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| 研究概要 |
本研究では、クラスターDNA損傷の生成過程についての知見を得るために単一の光によってDNA分子中に同時に二個以上生成するイオンの生成時間とイオン種の相関について調べるための、飛行時間型イオン質量分析器を開発した。さらに、軟X線によって生成するクラスターDNA損傷を酵素を用いた方法により定量した。
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