| 研究課題/領域番号 |
21350039
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
分析化学
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| 研究機関 | 千葉大学 |
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研究代表者 |
藤浪 眞紀 千葉大学, 大学院・工学研究科, 教授 (50311436)
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| 連携研究者 |
鈴木 良一 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 副部門長 (80357300)
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| 研究期間 (年度) |
2009 – 2011
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| 研究課題ステータス |
完了 (2011年度)
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| 配分額 *注記 |
19,500千円 (直接経費: 15,000千円、間接経費: 4,500千円)
2011年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
2010年度: 5,720千円 (直接経費: 4,400千円、間接経費: 1,320千円)
2009年度: 11,310千円 (直接経費: 8,700千円、間接経費: 2,610千円)
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| キーワード | 陽電子 / マイクロビーム / 原子空孔 / 二次元分布 / 塑性変形 / 転位 / 金属 / 腸電子 |
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| 研究概要 |
空孔型格子欠陥の高感度プローブである陽電子をマイクロビーム化することに成功し,欠陥の二次元マップを取得可能な陽電子プローブマイクロアナライザーを開発した。磁場輸送された陽電子ビームの磁場切離,透過型輝度増強法が開発要素である。ビーム径は14.5μmで,対消滅γ線の形状の位置依存性から欠陥マップを求める。純鉄の塑性変形誘起欠陥分布計測を行い,空孔クラスターの局所形成の実証や破断箇所の予測可能なことを示した。
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