自己校正技術を用いたアナログ-デジタル/デジタル-アナログ変換技術の研究

• 研究課題/領域番号: 21560369
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 東京都市大学
• 研究代表者: 堀田 正生 東京都市大学, 知識工学部, 教授 (40409371)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• 研究課題ステータス: 完了 (2011年度)
• 配分額: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円); 2011年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円); 2010年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円); 2009年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
• キーワード: 電子デバイス・集積回路 / AD変換器 / DA変換器 / アナログ・デジタル混載LSI / 自己校正技術 / 誤差補正技術 / チョッパ形増幅器

研究概要

逐次比較形アナログ・デジタル変換器(AD変換器)の高精度化のために、変換誤差補正方法として、3個および2個の比較器を用いる誤差補正アルゴリズムと非2進探索アルゴリズムの3種類の冗長アルゴリズムを提案し、それらの有効性を比較検討した。また、内部に用いるデジタル・アナログ変換器(DA変換器)の高精度化に関して、チョッパ形増幅器と同期検波回路を用いた荷重電流源の相対誤差の高精度検出方法について検討し、回路シミュレーションにより18ビット精度まで検出できる見通しを得た。

研究成果

• [雑誌論文] 逐次比較近似ADCコンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 小川智彦, 松浦達治, 小林春夫, 高井伸和, 堀田正生, 他
  • 雑誌名: 電子情報通信学会論文誌C 巻: vol.J94-C ページ: 68-78
  • NAID: 110008460344
  • 査読あり
• [雑誌論文] 逐次比較近似MDCコンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 小川智彦、松浦達治、小林春夫、高井伸和、 堀田正生, 他
  • 雑誌名: 電子情報通信学会論文誌C 巻: vol.J94-C ページ: 68-78
  • 査読あり
• [雑誌論文] SAR ADC Architecture with Digital Error Correction (2010)
  • 著者名/発表者名: Masao Hotta, Masayuki Kawakami, etal
  • 雑誌名: IEEJ Trans. on Electrical and Electronic Engineering 巻: vol.5, no.6 ページ: 651-659
  • NAID: 10027456721
  • 査読あり
• [雑誌論文] SAR ADC Algorithm with Redundancy and Digital Error Correction (2010)
  • 著者名/発表者名: T. Ogawa, M. Hotta, etal
  • 雑誌名: IEICE Trans. Fundamentals 巻: vol.E93-A ページ: 415-423
  • NAID: 10026863103
  • 査読あり
• [雑誌論文] SAR ADC Architecture with Digital Error Correction (2010)
  • 著者名/発表者名: M.Hotta, T.Kawakami, etal
  • 雑誌名: IEEJ Trans.on Electrical and Electronic Engineering 巻: vol.5 ページ: 651-659
  • NAID: 10027456721
  • 査読あり
• [雑誌論文] 逐次比較近似ADCコンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正技術 (2010)
  • 著者名/発表者名: 小川智彦、松浦達治、小林春夫、堀田正生, 他
  • 雑誌名: 電子情報通信学会論文誌C 巻: vol.J94-C ページ: 1-11
  • NAID: 110008460344
  • 査読あり
• [雑誌論文] SAR ADC Algorithm with Redundancy and Digital Error Correction (2010)
  • 著者名/発表者名: T.Ogawa, M.Hotta, etal
  • 雑誌名: IEICE Trans. Fundamentals vol.E93-A ページ: 415-423
  • NAID: 10026863103
  • 査読あり
• [雑誌論文] ディジタル・アナログ混載システムにおける適応フィルタを用いたディジタル雑音低減の一方法 (2009)
  • 著者名/発表者名: 川崎奈央, 堀田正生, 他
  • 雑誌名: 電気学会 電子回路研究会資料 ECT-09-97 ページ: 11-16
  • NAID: 10026222752
• [学会発表] マルチ入力ΔΣ形AD変換器の回路構成に関する検討 (2012)
  • 著者名/発表者名: 志水匠, 堀田正生, 傘昊
  • 学会等名: 電気学会電子回路研究会
  • 発表場所: 山形大学工学部(米沢)
  • 年月日: 2012-01-19
• [学会発表] Robust Switched-Capacitor ADC Based on Beta-expansion (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsubasa Maruyama, Hao San, Masao Hotta
  • 学会等名: IEEJ International Analog VLSI Workshop
  • 発表場所: Bali, Indonesia
  • 年月日: 2011-11-04
• [学会発表] Non-Binary Pipelined ADC with b-Encoding (2011)
  • 著者名/発表者名: Hao San, Tomonari Kato, Tsubasa Maruyama, Masao Hotta
  • 学会等名: IEEJ International Analog VLSI Workshop
  • 発表場所: Bali, Indonesia
  • 年月日: 2011-11-04
• [学会発表] 冗長性をもった逐次比較形AD変換方式の比較 (2011)
  • 著者名/発表者名: 田中美緒, 堀田正生
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 東京都市大学(東京)
  • 年月日: 2011-03-15
• [学会発表] Non-Binary SAR ADC with Digital Error Correction for Low Power Applications (2010)
  • 著者名/発表者名: T. Ogawa, T. Matsuura, H. Kobayashi, M. Hotta, etal
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kuala Lumpur, Malaysia
  • 年月日: 2010-12-07
• [学会発表] Design of SAR ADC with Digital Error Correction using Three Comparators (2009)
  • 著者名/発表者名: M. Kawakami, M. Hotta, etal
  • 学会等名: IEEJ International Analog VLSI Workshop
  • 発表場所: Chaing Mai, Thailand
  • 年月日: 2009-11-18
• [学会発表] Design of SAR ADC with Digital Error Correction using Three Comparators (2009)
  • 著者名/発表者名: M.Kawakami, M.Hotta, etal
  • 学会等名: IEEJ International Analog VLSI Workshop
  • 発表場所: Imperial Mae Ping Hotel, Chains Mai, Thailand
  • 年月日: 2009-11-18