元素識別コヒーレントX線回折顕微法の確立と金属材料の4Dナノーメゾ組織解析

• 研究課題/領域番号: 21686060
• 研究種目: 若手研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 金属物性
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 高橋 幸生 大阪大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (00415217)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• 研究課題ステータス: 完了 (2011年度)
• 配分額: 25,610千円 (直接経費: 19,700千円、間接経費: 5,910千円); 2011年度: 4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円); 2010年度: 10,140千円 (直接経費: 7,800千円、間接経費: 2,340千円); 2009年度: 11,310千円 (直接経費: 8,700千円、間接経費: 2,610千円)
• キーワード: コヒーレントX線光学 / X線顕微鏡 / 金属ナノ組織解析 / X線構造解析

研究概要

入射X線エネルギーが可変であるX線集光鏡を駆使した元素識別高分解能コヒーレントX線回折顕微法を第三世代放射光施設SPring-8に構築し、機能性金属ナノ粒子のナノ-メゾ組織解析に応用した。銀ナノキューブ粒子の観察において、X線顕微法の空間分解能の世界記録である2nmを達成し、金/銀ナノ中空粒子の三次元電子密度マッピングにも成功した。また、本手法を走査型測定法へ拡張することで、本顕微法の大視野化を実現した。

研究成果

• [雑誌論文] Multiscale element mapping of buried structures by ptychographic x-ray diffraction microscopy using anomalous scattering (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, A. Suzuki, N. Zettsu, Y. Kohmura, K. Yamauchi and T. Ishikawa
  • 雑誌名: Appl. Phys. Lett. 巻: 99 ページ: 131905-131905
  • 査読あり
• [雑誌論文] Towards High-Resolution Ptychographic X-ray Diffraction Microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, A. Suzuki, N. Zettsu, Y. Kohmura, Y. Senba, H. Ohashi, K. Yamauchi and T. Ishikawa
  • 雑誌名: Phys. Rev. B 巻: 83 ページ: 214109-214109
  • 査読あり
• [雑誌論文] Coherent diffraction microscopy at SPring-8 : instrumentation, data acquisition and data analysis (2011)
  • 著者名/発表者名: R.Xu, S.Salha, K.Raines, H.Jiang, C-.C.Chen, Y.Takahashi, Y.Kohmura, Y.Nishino, C.Song, T.Ishikawa, J.Miao
  • 雑誌名: Journal of Synchrotron Radiation 巻: 18 号: 2 ページ: 293-298
  • DOI: 10.1107/s0909049510051733
  • 査読あり
• [雑誌論文] Element-specific High-resolution Diffraction Microscopy using Focused Hard X-ray Beam (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, R.Tsutsumi, H.Kubo, N.Zettsu, K.Yamauchi, T.Ishikawa, E.Matsubara
  • 雑誌名: Diamond Light Source Proceedings(SRMS-7 2011) 巻: 1 号: SRMS-7
  • DOI: 10.1017/s2044820111000013
  • 査読あり
• [雑誌論文] Development of Coherent X-ray Diffraction Apparatus with Kirkpatrick-Baez Mirror Optics (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, R.Tsutsumi, H.Kubo, Y.Nishino, H.Mimura, S.Matsuyama, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 雑誌名: AIP Conference Proceedings (The 10th International Conference on x-ray microscopy) 巻: 1635 ページ: 231-234
  • DOI: 10.1063/1.3625346
  • 査読あり
• [雑誌論文] Towards High-Resolution Ptychographic X-ray Diffraction Microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, A.Suzuki, N.Zettsu, Y.Kohmura, Y.Senba, H.Ohashi, K.Yamauchi, T.Ishikawa
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: 83 号: 21 ページ: 214109-214109
  • DOI: 10.1103/physrevb.83.214109
  • 査読あり
• [雑誌論文] Multiscale element mapping of buried structures by ptychographic x-ray diffraction microscopy using anomalous scattering (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, A.Suzuki, N.Zettsu, Y.Kohmura, K.Yamauchi, T.Ishikawa
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: 99 号: 13 ページ: 131905-131905
  • DOI: 10.1063/1.3644396
  • 査読あり
• [雑誌論文] High-Resolution Projection Image Reconstruction of Thick Objects by Hard X-ray Diffraction Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, Y. Nishino, R. Tsutsumi, N. Zettsu, E. Matsubara, K. Yamauchi and T. Ishikawa
  • 雑誌名: Phys. Rev. B 巻: 82 ページ: 214102-214102
  • 査読あり
• [雑誌論文] Three-dimensional electron density mapping of shape-controlled nanoparticle by focused hard x-ray diffraction microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, N. Zettsu, Y. Nishino, R. Tsutsumi, E. Matsubara, T. Ishikawa and K. Yamauchi
  • 雑誌名: Nano Lett. 巻: 10 ページ: 1922-1926
  • 査読あり
• [雑誌論文] Two-dimensional measurement of focused x-ray beam profile using coherent x-ray diffraction of isolated nanoparticle (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, H. Kubo, R. Tsutsumi, S. Sakaki, N. Zettsu, Y. Nishino, T. Ishikawa and K. Yamauchi
  • 雑誌名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A : Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 巻: 616 ページ: 266-269
  • 査読あり
• [雑誌論文] An experimental procedure for precise evaluation of electron density distribution of a nanostructured material by coherent x-ray diffraction microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, H. Kubo, Y. Nishino, H. Furukawa, R. Tsutsumi, K. Yamauchi, T. Ishikawa and E. Matsubara
  • 雑誌名: Rev. Sci. Instrum. 巻: 81 ページ: 3707-3707
  • 査読あり
• [雑誌論文] Three-dimensional electron density mapping of shape-controlled nanoparticle by focused hard x-ray diffraction microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, N.Zettsu, Y.Nishino, R.Tsutsumi, E.Matsubara, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 雑誌名: Nano Letters 巻: 10 ページ: 1922-1926
  • 査読あり
• [雑誌論文] High-Resolution Projection Image Reconstruction of Thick Objects by Hard X-ray Diffraction Microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, R.Tsutsumi, N.Zettsu, E.Matsubara, K.Yamauchi, T.Ishikawa
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: 82 ページ: 214102-214102
  • 査読あり
• [雑誌論文] An experimental procedure for precise evaluation of electron density distribution of a nanostructured material by coherent x-ray diffraction microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, H.Kubo, Y.Nishino, H.Furukawa, R.Tsutsumi, K.Yamauchi, T.Ishikawa, E.Matsubara
  • 雑誌名: Review of Scientific Instruments 巻: 81 ページ: 33707-33707
  • 査読あり
• [雑誌論文] Two-dimensional measurement of focused x-ray beam profile using coherent x-ray diffraction of isolated nanoparticle (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, H.Kubo, R.Tsutsumi, S.Sakaki, N.Zettsu, Y.Nishino, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 雑誌名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Researth Section A : Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment (印刷中)
  • 査読あり
• [雑誌論文] An experimental procedure for precise evaluation of electron density distribution of a nanostructured material by coherent x-ray diffraction microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, H.Kubo, Y.Nishino, H.Furukawa, R.Tsutsumi, K.Yamauchi, T.Ishikawa, E.Matsubara
  • 雑誌名: Review of Scientific Instruments (印刷中)
  • 査読あり
• [雑誌論文] High-Resolution Diffraction Microscopy Using the Plane-Wave Field of a Nearly Diffraction-Limited Focusing X ray (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, Y. Nishino, R. Tsutsumi, H. Kubo, H. Furukawa, H. Mimura, S. Matsuyama, N. Zettsu, E. Matsubara, T. Ishikawa and K. Yamauchi
  • 雑誌名: Phys. Rev. B 巻: 80 ページ: 54103-54103
  • 査読あり
• [雑誌論文] Observation of electromigration voids in a Cu thin line by in situ coherent x-ray diffraction microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, Y. Nishino, H. Furukawa, H. Kubo, K. Yamauchi, T. Ishikawa and E. Matsubara
  • 雑誌名: J. Appl. Phys. 巻: 105 ページ: 124911-124911
  • 査読あり
• [雑誌論文] Feasibility study of high-resolution coherent diffraction microscopy using synchrotron x rays focused by Kirkpatrick-Baez mirrors (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, Y. Nishino, H. Mimura, R. Tsutsumi, H. Kubo, T. Ishikawa and K. Yamauchi
  • 雑誌名: J. Appl. Phys. 巻: 105 ページ: 83106-83106
  • 査読あり
• [雑誌論文] Feasibility study of high-resolution coherent diffraction microscopy using synchrotron x rays focused by Kirkpatrick-Baez mirrors (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, H.Mimura, R.Tsutsumi, H.Kubo, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 雑誌名: Journal of Applied Physics 105
  • 査読あり
• [雑誌論文] Observation of electromigration voids in a Cu thin line by in situ coherent x-ray diffraction microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, H.Furukawa, H.Kubo, K.Yamauchi, T.Ishikawa, E.Matsubara
  • 雑誌名: Journal of Applied Physics 105
  • 査読あり
• [雑誌論文] High-Resolution Diffraction Microscopy Using the Plane-Wave Field of a Nearly Diffraction-Limited Focusing X ray (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, R.Tsutsumi, H.Kubo, H.Furukawa, H.Mimura, S.Matsuyama, N.Zettsu, E.Matsubara, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 雑誌名: Physical Review B 80
  • 査読あり
• [雑誌論文] Development of incident x-ray flux monitor for coherent x-ray diffraction microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, H.Kubo, H.Furukawa, K.Yamauchi, E.Matsubara, T.Ishikawa, Y.Nishino
  • 雑誌名: Journal of Physics : Conference Series 186
  • 査読あり
• [雑誌論文] Nanostructure analysis by coherent hard X-ray diffraction (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Nishino, Y.Takahashi, H.Kubo, H.Furukawa, K.Yamauchi, K.Maeshima, N.Imamoto, R.Hirohata, E.Matsubara, T.Ishikawa
  • 雑誌名: Journal of Physics : Conference Series 186
  • 査読あり
• [学会発表] X線集光ビームを利用したコヒーレント回折技術の開発と応用 (2012)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: アモルファス・ナノ材料第147委員会第112回研究会
  • 発表場所: 弘済会館
  • 年月日: 2012-05-27
• [学会発表] コヒーレントX線回折による構造可視化の新手法 (2012)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 多元物質科学研究所若手交流研究会
  • 発表場所: 東北大学多元物質科学研究所
  • 年月日: 2012-02-24
• [学会発表] コヒーレントX線回折による構造可視化の新手法 (2012)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 多元物質科学研究所若手交流研究会
  • 発表場所: 東北大学多元物質科学研究所(仙台市)(招待講演)
  • 年月日: 2012-02-24
• [学会発表] What lies beneath : mapping hidden nanostructures (2012)
  • 学会等名: RIKEN Research
  • 年月日: 2012-02-10
• [学会発表] 高分解能X線タイコグラフィーの開発と元素識別イメージング (2012)
  • 著者名/発表者名: 鈴木明大、高橋幸生、是津信行、香村芳樹、仙波泰得、大橋治彦、山内和人、石川哲也
  • 学会等名: 第25回日本放射光学会年会
  • 発表場所: 鳥栖中央公民館(鳥栖市)
  • 年月日: 2012-01-07
• [学会発表] 高分解能コヒーレントX線回折顕微法の現状と将来展望 (2012)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会の電顕技術開発若手研究部会ワークショップ「様々なイメージング技術の現況と展望」
  • 発表場所: 名古屋ファインセラミックスセンター
  • 年月日: 2012-01-05
• [学会発表] 高分解能コヒーレントX線回折顕微法の現状と将来展望 (2012)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会の電顕技術開発若手研究部会ワークショップ「様々なイメージング技術の現況と展望」
  • 発表場所: 名古屋ファインセラミックスセンター(名古屋市)(招待講演)
  • 年月日: 2012-01-05
• [学会発表] 高分解能走査型コヒーレントX線回折顕微法の開発と金属材料のナノ組織解析への応用 (2011)
  • 著者名/発表者名: 鈴木明大、高橋幸生、山内和人、是津信行、香村芳樹、石川哲也
  • 学会等名: 優秀ポスター賞
  • 発表場所: 日本金属学会
  • 年月日: 2011-11-08
• [学会発表] 高分解能走査型コヒーレントX線回折顕微法の開発と金属材料のナノ組織解析への応用 (2011)
  • 著者名/発表者名: 鈴木明大、高橋幸生、山内和人、是津信行、香村芳樹、石川哲也
  • 学会等名: 日本金属学会秋期大会
  • 発表場所: ロワジールホテル那覇(那覇市)
  • 年月日: 2011-11-08
• [学会発表] 高分解能走査型コヒーレントX線回折顕微法の開発と金属材料のナノ組織解析への応用 (2011)
  • 著者名/発表者名: 鈴木明大、高橋幸生、山内和人、是津信行、香村芳樹、石川哲也
  • 学会等名: 日本金属学会秋期大会
  • 発表場所: 沖縄コンベンションセンター
  • 年月日: 2011-11-07
• [学会発表] Development of High-Resolution Ptychographic X-ray Diffraction Microscopy using Focused Hard X-ray Beam (2011)
  • 著者名/発表者名: A.Suzuki, Y.Takahashi, N.Zettsu, Y.Kohmura, K.Yamauchi, T.Ishikawa
  • 学会等名: International Global COE Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology 2011
  • 発表場所: Osaka University Nakanoshima Center, Osaka, Japan
  • 年月日: 2011-11-01
• [学会発表] Element-Specific Ptychographic X-ray Diffraction Microscopy using Anomalous Scattering (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, A.Suzuki, N.Zettsu, Y.Kohmura, K.Yamauchi, T.Ishikawa
  • 学会等名: International Global COE Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology 2011
  • 発表場所: Osaka University Nakanoshima Center, Osaka, Japan
  • 年月日: 2011-11-01
• [学会発表] 物質中の電子密度や特定元素の分布観察大視野・高分解能X線顕微鏡阪大、名大、理研の研究グループ開発 (2011)
  • 学会等名: 科学新聞
  • 年月日: 2011-10-14
• [学会発表] High-resolution coherent diffraction imaging using focused hard x-ray beam at SPring-8 (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, A. Suzuki, Y. Kohmura, Y. Nishino, K. Yamauchi and Tetsuya Ishikawa
  • 学会等名: CXS Annual Workshop 2011
  • 発表場所: Bio21 Institute Melbourne, Victoria, Australia
  • 年月日: 2011-10-10
• [学会発表] High-resolution coherent diffraction imaging using focused hard x-ray beam at SPring-8 (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, A.Suzuki, Y.Kohmura, Y.Nishino, K.Yamauchi, T.Ishikawa
  • 学会等名: CXC Annual Workshop 2011
  • 発表場所: Bio21 Institute, Melbourne, Victoria, Australia(招待講演)
  • 年月日: 2011-10-10
• [学会発表] 元素識別が可能に大視野、高分解能X線顕微鏡を開発阪大など (2011)
  • 学会等名: 化学工業日報
  • 年月日: 2011-10-03
• [学会発表] 大視野で高空間分解能阪大などがX線顕微鏡 (2011)
  • 学会等名: 日刊工業新聞
  • 年月日: 2011-10-03
• [学会発表] 原子見分ける顕微鏡阪大・理研など開発 (2011)
  • 学会等名: 読売新聞
  • 年月日: 2011-09-29
• [学会発表] Development and application of high-resolution diffraction microscopy using focused hard x-ray beam (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi
  • 学会等名: The 4th International Workshop on FEL Science
  • 発表場所: Peppers Beach Club and Spa, Palm Cove, Cairns, Queensland, Australia
  • 年月日: 2011-09-01
• [学会発表] Development and application of high-resolution diffraction microscopy using focused hard x-ray beam (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi
  • 学会等名: The 4th International Workshop on FEL Science
  • 発表場所: Cairns, Queensland, Australia(招待講演)
  • 年月日: 2011-08-31
• [学会発表] Development of high-resolution coherent X-ray diffraction microscopy and its application in materials science (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi
  • 学会等名: International conference on processing & manufacturing of advanced materials
  • 発表場所: Quebec city convention centre, Quebec, Canada
  • 年月日: 2011-08-03
• [学会発表] Development of high-resolution coherent X-ray diffraction microscopy and its application in materials science (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi
  • 学会等名: International conference on processing & manufacturing of advanced materials
  • 発表場所: Quebec city convention centre, Quebec, Canada(招待講演)
  • 年月日: 2011-08-03
• [学会発表] X線集光ビームを利用したコヒーレント回折技術の開発と応用 (2011)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: アモルファス・ナノ材料第147委員会第112回研究会
  • 発表場所: 弘済会館(東京都)(招待講演)
  • 年月日: 2011-05-27
• [学会発表] コヒーレントX線散乱イメージング技術の開発と応用の研究 (2011)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 文部科学大臣表彰若手科学者賞(科学技術部門)
  • 発表場所: 文部科学省
  • 年月日: 2011-04-20
• [学会発表] 高分解能コヒーレントX線回折顕微法による金銀ナノボックス粒子の三次元電子密度マッピング (2011)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生、是津信行、西野吉則、堤良輔、松原英一郎、石川哲也、山内和人
  • 学会等名: 第61回金属組織写真賞奨励賞(顕微鏡関連部門)
  • 発表場所: 日本金属学会
  • 年月日: 2011-03-25
• [学会発表] KBミラー集光X線を用いた高分解能走査型回折顕微法の開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 鈴木明大、高橋幸生、堤良輔、西野吉則、松原英一郎、山内和人、石川哲也
  • 学会等名: 第24回日本放射光学会年会
  • 発表場所: エポカルつくば(筑波市)
  • 年月日: 2011-01-09
• [学会発表] 高分解能コヒーレントX線回折顕微法による金銀ナノボックスの三次元電子密度マッピング (2011)
  • 著者名/発表者名: 堤良輔、高橋幸生、鈴木明大、西野吉則、是津信行、松原英一郎、石川哲也、山内和人
  • 学会等名: 第24回日本放射光学会年会
  • 発表場所: エポカルつくば(筑波市)
  • 年月日: 2011-01-09
• [学会発表] 試料厚さの効果を考慮した高分解能コヒーレントX線回折顕微法 (2011)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生、堤良輔、西野吉則、是津信行、松原英一郎、山内和人、右川哲也
  • 学会等名: 第24回日本放射光学会年会
  • 発表場所: エポカルつくば(筑波市)
  • 年月日: 2011-01-09
• [学会発表] 試料厚さの効果を考慮した高分解能コヒーレントX線回折顕微法 (2011)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生、堤良輔、西野吉則、是津信行、松原英一郎、山内和人、石川哲也
  • 学会等名: 第24回日本放射光学会年会
  • 発表場所: エポカルつくば
  • 年月日: 2011-01-08
• [学会発表] Development and application of high-resolution X-ray diffraction microscopy using advanced mirror optics (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi
  • 学会等名: International Global COE Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology 2010
  • 発表場所: 大阪大学中之島センター(大阪市)
  • 年月日: 2010-11-25
• [学会発表] Development and application of high-resolution X-ray diffraction microscopy using advanced mirror optics (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi
  • 学会等名: International Global COE Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology 2010
  • 発表場所: Osaka University Nakanoshima Center, Osaka, Japan
  • 年月日: 2010-11-24
• [学会発表] Development of high-resolution X-ray diffraction microscopy using Kirkpatrick and Baez mirrors (2010)
  • 著者名/発表者名: R.Tsutsumi, Y.Takahashi, N.Zettsu, A.Suzuki, Y.Nishino, E.Matsubara, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 学会等名: International Global COE Symposium on Atomically Controlled Fabrication Technology 2010
  • 発表場所: 大阪大学中之島センター(大阪市)
  • 年月日: 2010-11-24
• [学会発表] Development and application of high-resolution X-ray diffraction microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi
  • 学会等名: International Symposium at Frontier Research Base for Global Young Researchers
  • 発表場所: 大阪大学銀杏会館(吹田市)
  • 年月日: 2010-11-16
• [学会発表] 高分解能コヒーレントX線回折顕微法による金属ナノ粒子の三次元電子密度マッピング (2010)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生、是津信行、堤良輔、山内和人、西野吉則、石川哲也、松原英一郎
  • 学会等名: 日本金属学会秋期大会
  • 発表場所: 北海道大学(札幌市)
  • 年月日: 2010-09-26
• [学会発表] 高分解能コヒーレントX線回折顕微法による金属ナノ粒子の三次元電子密度マッピング (2010)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生、是津信行、堤良輔、山内和人、西野吉則、石川哲也、松原英一郎
  • 学会等名: 日本金属学会秋期大会
  • 発表場所: 北海道大学
  • 年月日: 2010-09-25
• [学会発表] Development and application of high-resolution diffraction microscopy using focused hard X-ray beam (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, E.Matsubara, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 学会等名: The 10th International Conference of X-ray Microscopy
  • 発表場所: Chicago, Illinois, U.S.A
  • 年月日: 2010-08-17
• [学会発表] Development and application of high-resolution diffraction microscopy using focused hard X-ray beam (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi, Y. Nishino, E. Matsubara, T. Ishikawa and Kazuto Yamauchi
  • 学会等名: the 10th International Conference of X-ray Microscopy
  • 発表場所: chicago, illinois, USA
  • 年月日: 2010-08-16
• [学会発表] Development of coherent x-ray diffraction microscopy and its application in materials science (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi
  • 学会等名: The 7th International Conference on Synchrotron Radiation in Materials Science
  • 発表場所: The Said Business School, Oxford, UK
  • 年月日: 2010-07-13
• [学会発表] Development of coherent x-ray diffraction microscopy and its application in materials science (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi
  • 学会等名: The 7th International Conference on Synchrotron Radiation in Materials Science
  • 発表場所: Oxford, UK
  • 年月日: 2010-07-12
• [学会発表] 10ナノのくぼみはっきり新型のX線顕微鏡阪大グループ開発 (2010)
  • 学会等名: 朝日新聞
  • 年月日: 2010-05-11
• [学会発表] X線顕微鏡観察精度10ナノ以下阪大などSPring-8活用 (2010)
  • 学会等名: 日経産業新聞
  • 年月日: 2010-04-21
• [学会発表] Development and application of coherent x-ray diffraction microscopy at SPring-8 (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi
  • 学会等名: TMS annual meeting
  • 発表場所: Seattle, Washington, USA
  • 年月日: 2010-02-17
• [学会発表] Development of coherent x-ray diffraction microscopy and its application in materials science (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi
  • 学会等名: TMS annual meeting
  • 発表場所: Seattle, Washington, USA
  • 年月日: 2010-02-16
• [学会発表] 2010 JIM/ TMS Young Leader International Scholar (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi
  • 学会等名: The Minerals, Metals & Materials Society The Minerals, Metals & Materials Society
  • 年月日: 2010-02-14
• [学会発表] KBミラー放射光集光X線を用いた高分解能コヒーレントX線回折顕微法の開発 (2010)
  • 著者名/発表者名: 堤良輔、高橋幸生、西野吉則、久保英人、榊茂之、三村秀和、松山智至、是津信行、石川哲也、松原英一郎、山内和人
  • 学会等名: 第23回日本放射光学会年会
  • 発表場所: イーグレ姫路、姫路
  • 年月日: 2010-01-09
• [学会発表] KBミラー集光X線を用いたコヒーレントX線回折顕微法の応用 (2010)
  • 著者名/発表者名: 久保英人、高橋幸生、是津信行、堤良輔、榊茂之、西野吉則、石川哲也、松原英一郎、山内和人
  • 学会等名: 第23回日本放射光学会年会
  • 発表場所: イーグレ姫路、姫路
  • 年月日: 2010-01-09
• [学会発表] 高分解能X線回折顕微法を実現するための回折強度データ取得法の検討-ピクセルシフトによる回折パターンの高解像度化- (2010)
  • 著者名/発表者名: 榊茂之、高橋幸生
  • 学会等名: 第23回日本放射光学会年会
  • 発表場所: イーグレ姫路、姫路
  • 年月日: 2010-01-09
• [学会発表] コヒーレントX線散乱・回折イメージング技術の開発と応用 (2010)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 第14回日本放射光学会奨励賞
  • 発表場所: 日本放射光学会
  • 年月日: 2010-01-07
• [学会発表] コヒーレントX線回折・散乱イメージング技術の開発とその応用 (2010)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 第23回日本放射光学会年会
  • 発表場所: イーグレ姫路、姫路
  • 年月日: 2010-01-07
• [学会発表] コヒーレントX線回折・散乱イメージング技術の開発とその応用 (2010)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 第23回日本放射光学会年会
  • 発表場所: イーグレ姫路
  • 年月日: 2010-01-06
• [学会発表] Development and application of coherent x-ray diffraction microscopy at SPring-8 (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Takahashi
  • 学会等名: X-ray coherent diffraction" Workshop & XFEL Meeting, SOLEIL Synchrotron facility
  • 発表場所: France
  • 年月日: 2009-12-14
• [学会発表] Development and application of coherent x-ray diffraction microscopy at SPring-8 (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi
  • 学会等名: "X-ray coherent diffraction" Workshop & XFEL Meeting
  • 発表場所: SOLEIL Synchrotron facility, Saint-Aubin France
  • 年月日: 2009-12-14
• [学会発表] 硬X線集光ビームを用いた高分解能回折顕微法の開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 第10回X線結像光学シンポジウム
  • 発表場所: つくばエポカル
  • 年月日: 2009-11-07
• [学会発表] 硬X線集光ビームを用いた高分解能回折顕微法の開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 第10回X線結像光学シンポジウム
  • 発表場所: エポカルつくば、筑波
  • 年月日: 2009-11-07
• [学会発表] KBミラー集光システムを備えた高分解能コヒーレントX線回折顕微法装置の開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 久保英人、高橋幸生、堤良輔、榊茂之、西野吉則、石川哲也、山内和人
  • 学会等名: 第10回X線結像光学シンポジウム
  • 発表場所: エポカルつくば、筑波
  • 年月日: 2009-11-07
• [学会発表] High-resolution diffraction microscopy using the plane-wave field of a nearly diffraction limited focused x-ray beam (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, R.Tsutsumi, H.Kubo, H.Furukawa, H.Mimura, S.Matsuyama, N.Zettsu, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 学会等名: "Developments in Coherent X-ray Methods" SRI2009 Satellite Workshop
  • 発表場所: Melbourne University, Melbourne, Australia
  • 年月日: 2009-10-03
• [学会発表] Development and application of high-resolution diffraction microscopy using synchrotron x-ray beam focused Kirkpatrick-Baez mirrors (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, R.Tsutsumi, H.Kubo, H.Furukawa, H.Mimura, S.Matsuyama, N.Zettsu, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 学会等名: The 10 the international conference on synchrotron radiation instrumentation
  • 発表場所: The melbourne convention and exhibition center, Melbourne, Australia
  • 年月日: 2009-09-29
• [学会発表] High-resolution diffraction microscopy using synchrotron X-ray beam focused by Kirkpatrick-Baez mirrors (2009)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, Y.Nishino, R.Tsutsumi, H.Kubo, H.Furukawa, H.Mimura, S.Matsuyama, N.Zettsu, T.Ishikawa, K.Yamauchi
  • 学会等名: International Workshop on X-ray Mirror Design, Fabrication, and Metrology
  • 発表場所: 銀杏会館、大阪大学
  • 年月日: 2009-09-23
• [学会発表] 集光X線を利用した高分解能回折顕微法の開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 日本放射光学会第一回若手研究会「X線ナノ集光技術研究会」
  • 発表場所: 大阪大学
  • 年月日: 2009-08-10
• [学会発表] 集光X線を利用した高分解能回折顕微法の開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 高橋幸生
  • 学会等名: 日本放射光学会第一回若手研究会
  • 発表場所: 大阪大学理工学図書館、図書館ホール、大阪大学
  • 年月日: 2009-08-10
• [学会発表] KBミラー集光放射光X線を用いた高分解能回折顕微法の実現可能性の検討 (2009)
  • 著者名/発表者名: 堤良輔、高橋幸生、西野吉則、三村秀和、久保英人、石川哲也、山内和人
  • 学会等名: 精密工学会関西支部 2009年度関西地方定期学術講演会
  • 発表場所: 千里ライフサイエンスセンター、大阪
  • 年月日: 2009-05-13
• [図書] SPring-8 Research Frontiers 2010 (2011)
  • 著者名/発表者名: Y.Takahashi, N.Zettsu
  • 出版者: SPring-8
• [備考]
  • URL: http://www-up.prec.eng.osaka-u.ac.jp/takahashi/
• [備考]
  • URL: http://www-up.prec.eng.osaka-u.ac.jp/takahashi/
• [備考]
  • URL: http://www.wakate.frc.eng.osaka-u.ac.jp/takahashi/
• [備考]
  • URL: http://www.wakate.frc.eng.osaka-u.ac.jp/takahashi/