ナノ半導体アナログ回路の自己校正・テスト・診断修復技術の研究

• 研究課題/領域番号: 22560319
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 群馬大学
• 研究代表者: 小林 春夫 群馬大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20292625)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2012
• 研究課題ステータス: 完了 (2012年度)
• 配分額: 3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円); 2012年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2011年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2010年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
• キーワード: 集積回路 / ナノCMOS / アナログ / 自己校正 / LSI テスト / LSIテスト

研究概要

ナノCMOSシステムLSIでのアナログ/ミックストシグナル回路の自己校正,自己テスト,自己診断・修復技術のいくつかの技術を開発した.とくにパイプラインADC,サイクリックADC,逐次比較近似ADC,インターリーブADC,時間デジタイザ回路に対して個別にこれらの技術を開発し有効性の検証を行った.

研究成果

• [雑誌論文] Two-Tone Signal Generation for ADC Testing (2013)
  • 著者名/発表者名: K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, C. Gao, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Electronics 巻: vol.E96-C, no.6 ページ: 850-858
  • NAID: 10031193940
  • 査読あり
• [雑誌論文] Two-Tone Signal Generation for ADC Testing (2013)
  • 著者名/発表者名: Keisuke Kato
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Electronics 巻: vol.E96-C
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low-Distortion Sinewave Generation Method Using Arbitrary Waveform Generator (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Wakabayashi, K. Kato, T. Yamada, O. Kobayashi, H. Kobayashi, F. Abe, K. Niitsu
  • 雑誌名: Journal of Electronic Testing : Theory and Applications, Springer 巻: vol.28, Issue.5 ページ: 641-651
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low-Distortion Sinewave Generation Method Using Arbitrary Waveform Generator (2012)
  • 著者名/発表者名: Kazuyuki Wakabayashi
  • 雑誌名: Journal of Electronic Testing : Theory and Applications 巻: 28 号: 5 ページ: 641-651
  • DOI: 10.1007/s10836-012-5293-4
  • 査読あり
• [雑誌論文] Background Self-Calibration Algorithm for Pipelined ADC Using Split ADC Scheme (2011)
  • 著者名/発表者名: T. Yagi, K. Usui, T. Matsuura, S.Uemori, Y. Tan, S. Ito, H. Kobayashi
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Electronics 巻: Vol.E94-C, No.7 ページ: 1233-1236
  • NAID: 10029804752
  • 査読あり
• [雑誌論文] Design for Testability That Reduces Linearity Testing Time of SAR ADCs (2011)
  • 著者名/発表者名: T. Ogawa, H. Kobayashi, S. Uemori, Y. Tan, S. Ito, N. Takai, T. Yamaguchi, K. Niitsu
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Electronics 巻: Vol.E 94-C, no.6 ページ: 1061-1064
  • NAID: 10029804340
  • 査読あり
• [雑誌論文] 逐次比較近似 ADC コンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正 技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 小川智彦, 松浦達治, 小林春夫, 高井 伸和, 堀田正生, 傘昊, 阿部彰, 八木勝義, 森俊彦
  • 雑誌名: 電子情報通信学会誌 和文誌 C 巻: Vol.J94-C, no.3
  • NAID: 110008460344
  • 査読あり
• [雑誌論文] Design for Testability That Reduces Linearity Testing Time of SAR ADCs (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Ogawa, H.Kobayashi, S.Uemori, Y.Tan, S.Ito, N.Takai T.Yamaguchi, K.Niitsu
  • 雑誌名: IEICE Trans.on Electronics 巻: Vol.E93-C ページ: 1061-1064
  • NAID: 10029804340
  • 査読あり
• [雑誌論文] Background Self-Calibration Algorithm for Pipelined ADC Using Split ADC Scheme (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Yagi, K.Usui, T.Matsuura, S.Uemori, Y.Tan, S.Ito, H.Kobayashi
  • 雑誌名: IEICE Trans.on Electronics 巻: Vol.E93-C ページ: 1233-1236
  • NAID: 10029804752
  • 査読あり
• [雑誌論文] 逐次比較近似ADCコンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 小川智彦, 他8名
  • 雑誌名: 電子情報通信学会誌 和文誌C 巻: Vol.J94-C ページ: 68-78
  • 査読あり
• [雑誌論文] Production Test Consideration for Mixed-Signal IC with Background Calibration (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Yagi, H.Kobayashi, 他5名
  • 雑誌名: IEEJ Trans.Electrical and Electronic Engineering 巻: Vol.5 ページ: 627-631
  • NAID: 10027456659
  • 査読あり
• [学会発表] シグマデルタTDCを用いた位相ノイズ測定手法 (1) --システムレベ ル検討- (2013)
  • 著者名/発表者名: 大澤優介
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] シグマデルタTDCを用いた位相ノイズ測定手法 (2) -回路レベル検討- (2013)
  • 著者名/発表者名: 平林大樹
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] 高精度・低消費電力サイクリックADCの自己校正法の検討 (2013)
  • 著者名/発表者名: 劉 羽
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] 微細化された MOS トランジスタの NBTI 劣化による信頼性問題と NBTI 劣化改善の検討 (2013)
  • 著者名/発表者名: ビスワス・スミット・クマール
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] ノイズシェーピング サイクリックADCの検討 (2013)
  • 著者名/発表者名: 新井薫子
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] 通信用ICテスト用I,Q信号発生のための複素マルチバンドパスΔΣDA変調器の検討(1) (2013)
  • 著者名/発表者名: シャイフル・ニザム・ビン・モーヤ
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] 通信用ICテスト用I,Q信号発生のための複素マルチバンドパスΔΣDA変調器の検討(2) (2013)
  • 著者名/発表者名: 村上正紘
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] ＤＡ変換器のＶＣＯを用いた自己校正技術の検討 (2013)
  • 著者名/発表者名: 荒川雄太
  • 学会等名: 第3回電気学会東京支部栃木・群馬支所合同研究発表会
  • 発表場所: 宇都宮
• [学会発表] コンパレータ遅延を利用したアナログテスト容易化回路 (2013)
  • 著者名/発表者名: 須釜裕太
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 東京
• [学会発表] 確率的時間ディジタイザ回路の自己校正技術 (2013)
  • 著者名/発表者名: 土井佑太
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 東京
• [学会発表] インターリーブＡＤＣでのタイミングスキューのディジタル手法による検出・補正技術 (2013)
  • 著者名/発表者名: 易茹
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 東京
• [学会発表] サンプリング回路の解析 (2013)
  • 著者名/発表者名: 新井美保
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 東京
• [学会発表] AD/DA変換器のディジタル自己校正・補正技術 (2013)
  • 著者名/発表者名: 小林春夫
  • 学会等名: 電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会
  • 発表場所: 群馬県桐生市
  • 招待講演
• [学会発表] Two-Tone Signal Generation for Communication Application ADC Testing (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, K. Abe, C. Gao, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu
  • 学会等名: The 21st IEEE Asian Test Symposium
  • 発表場所: Niigata, Japan
  • 年月日: 2012-12-12
• [学会発表] Multi-bit Sigma-Delta TDC Architecture with Self-Calibration (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Uemori, M. Ishii, H. Kobayashi, Y. Doi, Os. Kobayashi, T. Matsuura, K. Niitsu, Y. Arakawa, D. Hirabayashi, Y. Yano, T. Gake, N. Takai, T. Yamaguchi
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kaohsiung, Taiwan
  • 年月日: 2012-12-05
• [学会発表] Digitally-Controlled Gm-C Bandpass Filter (2012)
  • 著者名/発表者名: G. Jin, H. Chen, C. Gao, Y. Zhang, H. Kobayashi, N. Takai, K. Niitsu, K. Hadidi
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kaohsiung, Taiwan
  • 年月日: 2012-12-05
• [学会発表] Low-IMD Two-Tone Signal Generation for ADC Testing (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Taipei, Taiwan
  • 年月日: 2012-05-16
• [学会発表] Multi-bit Sigma-Delta TDC Architecture for Digital Signal Timing Measurement (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Uemori, M. Ishii, H. Kobayashi, Y. Doi, O. Kobayashi, T. Matsuura, K. Niitsu, F. Abe, D. Hirabayashi
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Taipei, Taiwan
  • 年月日: 2012-05-15
• [学会発表] 連続時間アナログフィルタのディジタル自動調整法の一提案 (2012)
  • 著者名/発表者名: 〓光磊、陳昊、高川、張雲鵬、小林春夫、高井伸和、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 横須賀
  • 年月日: 2012-03-30
• [学会発表] パイプラインAD変換器の自己校正法 (2012)
  • 著者名/発表者名: 丹陽平、劉羽、小林春夫、小林修、松浦達治、新津葵一
  • 学会等名: 電子情報通信学会第28回シリコンアナログRF研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2012-03-16
• [学会発表] サイクリックAD変換器の自己校正法の検討 (2012)
  • 著者名/発表者名: 劉羽、丹陽平, 小林春夫、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会栃木・群馬支所主催 研究発表会
  • 発表場所: 桐生
  • 年月日: 2012-02-29
• [学会発表] デルタシグマ型タイムデジタイザ・アーキテクチャ (2012)
  • 著者名/発表者名: 上森聡史、石井正道、小林春夫, 土井佑太、松浦達治、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 栃木・群馬支所主催研究発表会
  • 発表場所: 桐生
  • 年月日: 2012-02-29
• [学会発表] ミックストシグナルSOCテスト技術の動向と最近の研究成果 (2012)
  • 著者名/発表者名: 小林春夫
  • 学会等名: 計測展2011,Tokyo 専門カンファレンス-電子計測技術の最前線
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2012-01-18
• [学会発表] Low-Cost High-Quality Signal Generation for ADC Testing (2012)
  • 著者名/発表者名: Haruo Kobayashi
  • 学会等名: IEEE International Test Conference
  • 発表場所: Anaheim, CA, USA
• [学会発表] Two-Tone Signal Generation for Communication Application ADC Testing (2012)
  • 著者名/発表者名: Keisuke Kato
  • 学会等名: IEEE Asian Test Symposium
  • 発表場所: Niigata, Japan
• [学会発表] ディジタル信号タイミング試験用BOSTの検討 (2012)
  • 著者名/発表者名: 平林 大樹
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 熊本
• [学会発表] 任意波形発生器を用いた低歪み信号発生技術でのアナログフィルタ要求性能 (2012)
  • 著者名/発表者名: 安部 文隆
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 熊本
• [学会発表] 任意波形発生器を用いたノイズシェーピング技術 (2012)
  • 著者名/発表者名: 村上 正紘
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 熊本
• [学会発表] 増幅器の出力遅延時間を利用した微小信号電位差・電流差検出回路 (2012)
  • 著者名/発表者名: 須釜裕太
  • 学会等名: 第６７回ＦＴＣ研究会
  • 発表場所: 滋賀県大津市
• [学会発表] Two-Tone Signal Generation for Testing of Communication Application Devices (2012)
  • 著者名/発表者名: Keisuke Kato
  • 学会等名: 第25回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 淡路島
• [学会発表] シグマデルタ型タイムデジタイザ回路の検討 (2011)
  • 著者名/発表者名: 上森聡史, 土井佑太, 小林春夫, 小林修、松浦達治、新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 長崎
  • 年月日: 2011-10-20
• [学会発表] TVチューナ用完全ディジタルPLL回路-システムの観点から (2011)
  • 著者名/発表者名: 湯本哲也, 村上健, 西村繁幸, 田邊朋之, 壇徹, 高橋伸夫, 内藤智洋, 北村真一, 坂田浩司, 小林春夫, 高井伸和, 新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 長崎
  • 年月日: 2011-10-20
• [学会発表] TVチューナ用完全ディジタルPLL回路-広帯域化の検討 (2011)
  • 著者名/発表者名: 村上健, 湯本哲也, 長谷川賀則, 三田大介, 壇徹, 内藤智洋, 高橋伸夫, 坂田浩司, 北村真一, 小林春夫, 高井伸和, 新津葵一
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 長崎
  • 年月日: 2011-10-20
• [学会発表] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Using ΣΔ DAC (2011)
  • 著者名/発表者名: T.Yamada, O.Kobayashi, K.Kato, K.Wakabayashi, H.Kobayashi, T.Matsuura, Y.Yano, T.Gake, K.Niitsu, N.Takai, T.Yamaguchi
  • 学会等名: IEEE International Test Conference
  • 発表場所: Anaheim, CA, USA
  • 年月日: 2011-09-21
• [学会発表] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Algorithms Using an Arbitrary Waveform Generator (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Wakabayashi, T. Yamada, S. Uemori, O. Kobayashi, K. Kato, H. Kobayashi, K. Niitsu, H. Miyashita, S. Kishigami, K. Rikino, Y. Yano, T. Gake
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Santa Barbara, CA
  • 年月日: 2011-05-16
• [学会発表] Digitally-Assisted Compensation Technique for Timing Skew in ATE Systems (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Asami, T.Tateiwa, T.Kurosawa, H.Miyajima, H.Kobayashi
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Santa Barbara, CA, USA
  • 年月日: 2011-05-16
• [学会発表] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Algorithms Using an Arbitrary Waveform Generator (2011)
  • 著者名/発表者名: K.Wakabayashi, T.Yamada, S.Uemori, O.Kobayashi, K.Kato, H.Kobayashi, K.Nitsu, H.Miyashita, S.Kishigami, K.Rikino, Y.Yano, T.Gake
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Santa Barbara, CA, USA
  • 年月日: 2011-05-16
• [学会発表] デジタルアシスト・アナログRFテスト技術・サブ100nmミックストシグナルSOCのテストの検討(招待) (2011)
  • 著者名/発表者名: 小林春夫
  • 学会等名: 電子情報通信学会 総合大会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2011-03-15
• [学会発表] 高次ΔΣDAC信号発生回路での歪キャンセル・ノイズ低減技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 山田貴文
  • 学会等名: 電子情報通信学会 総合大会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2011-03-15
• [学会発表] ADCテスト信号生成のためのAWG非線形性補正技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 若林和行
  • 学会等名: 第64回FTC研究会
  • 発表場所: 岐阜
  • 年月日: 2011-01-07
• [学会発表] Stochastic TDC Architecture with Self-Calibration (2010)
  • 著者名/発表者名: S.Ito
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kuala Lumpur, Malaysia
  • 年月日: 2010-12-09
• [学会発表] Background Calibration Algorithm for Pipelined ADC with Open-Loop Residue Amplifier using Split ADC Structure (2010)
  • 著者名/発表者名: S.Uemori
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kuala Lumpur, Malaysia
  • 年月日: 2010-12-08
• [学会発表] SAR ADC That is Configurable to Optimize Yield (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Tan
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kuala Lumpur, Malaysia
  • 年月日: 2010-12-08
• [学会発表] ADC Linearity Test Signal Generation Algorithm (2010)
  • 著者名/発表者名: S.Uemori
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kuala Lumpur, Malaysia
  • 年月日: 2010-12-08
• [学会発表] Non-binary SAR ADC with Digital Error Correction for Low Power Applications (2010)
  • 著者名/発表者名: H.Kobayashi
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kuala Lumpur, Malaysia
  • 年月日: 2010-12-07
• [学会発表] デルタシグマDAC信号発生回路でのデジタル歪補正技術 (2010)
  • 著者名/発表者名: 山田貴文
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 山梨
  • 年月日: 2010-10-28
• [学会発表] 信号発生器用DACの非線形性補正 (2010)
  • 著者名/発表者名: 若林和
  • 学会等名: 電子情報通信学会ソサイエティ大会
  • 発表場所: 大阪
  • 年月日: 2010-09-14
• [学会発表] デジタルアシスト・アナログテスト技術(招待) (2010)
  • 著者名/発表者名: 小林春夫
  • 学会等名: 電子情報通信学会 集積回路研究会
  • 発表場所: 大阪
  • 年月日: 2010-07-21
• [学会発表] 自己校正・自己診断機能を備えたタイムデジタイザ回路 (2010)
  • 著者名/発表者名: 伊藤聡志
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 北海道
  • 年月日: 2010-06-11
• [学会発表] I,Q残差パイプラインAD変換器アーキテクチャ (2010)
  • 著者名/発表者名: 丹陽平
  • 学会等名: 電気学会 電子回路研究会
  • 発表場所: 北海道
  • 年月日: 2010-06-11
• [学会発表] 冗長アルゴリズムSAR ADCのテスト容易化技術 (2010)
  • 著者名/発表者名: 伊藤聡志
  • 学会等名: 電子情報通信学会、第23回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ
  • 発表場所: 軽井沢
  • 年月日: 2010-04-19
• [図書] 完全ディジタルPLL回路の設計-ディープ・サブミクロンCMOSプロセスで実現するAll-DigitalFrequencySynthesizer
  • 著者名/発表者名: Robert Bogdan Staszewski, Poras T. Balsara(著),山田庸一郎(訳)小林春夫(監訳)
  • 出版者: CQ出版(2010年9月出版).
• [産業財産権] Multi-bit Delta-Sigma Time Digitizer and Calibration Method Thereof (2013)
  • 発明者名: 上森聡史, 石井正道, 小林春夫
  • 権利者名: 半導体理工学研究センター
  • 出願年月日: 2013-02-14
  • 外国
• [産業財産権] マルチビットのデルタシグマ型タイ ムデジタイザ回路及びその校正方法 (2012)
  • 発明者名: 上森聡史, 石井正道, 小林春夫
  • 権利者名: 半導体理工学研究センター
  • 産業財産権番号: 2012-031484
  • 出願年月日: 2012-02-16
• [産業財産権] マルチビットのデルタシグマ型タイムデジタイザ回路及びその校正方法 (2011)
  • 発明者名: 上森聡史、石井正道、小林春夫
  • 権利者名: 群馬大学
  • 産業財産権番号: 2012-031484
  • 出願年月日: 2011-12-16