LSIの多様な要求品質に対応できる数理計画的アプローチによる体系的なテスト生成法

• 研究課題/領域番号: 22700049
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 広島市立大学 (2012); 北陸先端科学技術大学院大学 (2010-2011)
• 研究代表者: 岩垣 剛 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教 (00397845)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2012
• 研究課題ステータス: 完了 (2012年度)
• 配分額: 3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円); 2012年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円); 2011年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円); 2010年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
• キーワード: テスト生成 / 整数計画法 / 充足可能性問題 / 非同期インターコネクト / クロックスキュー / ホールドタイム違反 / 電力制約下テスト / テスト数最小化 / ホールドタイム故障 / 整数計画問題 / テストパターン数最小化 / 検出故障数最大化 / ホールド違反 / 消費電力 / 解の再利用 / インスタンスの類似度 / 変数割当て順序 / 集積回路 / テストスケジューリング / ホールド違反検出 / スキャンチェーン順序

研究概要

本研究では,大規模集積回路(LSI)に対して様々な質のテストを柔軟に生成するための枠組みとして,数理計画法(特に整数計画法)に着目し,種々のテスト生成問題から整数計画問題へのモデル化手法,求解の高速化手法を考案した.これにより,個々のテスト生成問題に応じた解法を新たに開発することなしに,既存の高性能な整数計画ソルバで問題を解くことが可能となる.以上の成果は低コストでLSIの信頼性を高めることにつながる.

研究成果

• [雑誌論文] Flexible test scheduling for an asynchronous on-chip interconnect through special data transfer (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki, Eiri Takeda and Mineo Kaneko
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Fundamentals 巻: E94-A ページ: 2563-2570
  • NAID: 10030533654
  • 査読あり
• [雑誌論文] Fiexible test scheduling for an asynchronous on-chip interconnect through special data transfer (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki
  • 雑誌名: IEICE Trans.on Fundamentals 巻: E94-A ページ: 2563-2570
  • 査読あり
• [学会発表] 解の再利用によるテスト生成のためのハードウェアSATソルバの実装 (2013)
  • 著者名/発表者名: 向井俊矢, 上田健司, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
  • 学会等名: 信学技法
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2013-02-01
• [学会発表] 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法 (2012)
  • 著者名/発表者名: 上田健司, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
  • 学会等名: 信学技法
  • 発表場所: 福岡
  • 年月日: 2012-11-01
• [学会発表] Exact and heuristic methods of generating compact tests for hold-time violations (2012)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki, HideyukiIchihara, Tomoo Inoue and Kewal K. Saluja
  • 学会等名: Digest of Papers 13th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
  • 発表場所: Niigata
  • 年月日: 2012-11-01
• [学会発表] A technique for SAT-based test generation through history of reusing solutions (2012)
  • 著者名/発表者名: Kenji Ueda
  • 学会等名: 17th Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information Technologies
  • 発表場所: ビーコンプラザ(大分)
  • 年月日: 2012-03-08
• [学会発表] A technique for SAT-based testgeneration through history of reusing solutions (2012)
  • 著者名/発表者名: Kenji Ueda, Fumiyuki Hafuri, Toshiya Mukai, Tsuyoshi Iwagaki, Hideyuki Ichihara and Tomoo Inoue
  • 学会等名: Proc. 17th Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI '12)
  • 発表場所: Oita
  • 年月日: 2012-03-01
• [学会発表] Exact and heuristic methods of generating compact tests for hold-time violations (2012)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki
  • 学会等名: IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)
  • 発表場所: 新潟
• [学会発表] An approach to hardware SAT solvers for test generation based on instance similarity (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki
  • 学会等名: 12th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
  • 発表場所: MNIT Jaipur, India
  • 年月日: 2011-11-26
• [学会発表] An approach to hardware SAT solvers for test generation based on instance similarity (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki, Fumiyuki Hafuri, Kenji Ueda, Toshiya Mukai, Hideyuki Ichihara and Tomoo Inoue
  • 学会等名: Digest of Papers 12th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '11)
  • 発表場所: Jaipur (India)
  • 年月日: 2011-11-01
• [学会発表] Power-constrained test generation for hold-time faults using integer linear programming (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki
  • 学会等名: 4th IEEE International Workshop on Impact of Low-Power Design on Test and Reliability
  • 発表場所: Gloshaugen Campus, Trondheim, Norway
  • 年月日: 2011-05-27
• [学会発表] Power-constrained test generation for hold-time faults using integer linear programming (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki and Kewal K. Saluja
  • 学会等名: Proc. 4th IEEE International Workshop on Impact of Low-Power Design on Test and Reliability (LPonTR '11)
  • 発表場所: Trondheim (Norway)
  • 年月日: 2011-05-01
• [学会発表] Indirect detection of clock skew induced hold-time violations on functional paths using scan shift operations (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki
  • 学会等名: 14th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
  • 発表場所: Lindner Congress Hotel, Cottbus, Germany
  • 年月日: 2011-04-13
• [学会発表] Indirect detection of clock skew induced hold-time violations on functional paths using scan shift operations (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki and Kewal K. Saluja
  • 学会等名: Proc. 14th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS '11)
  • 発表場所: Cottbus (Germany)
  • 年月日: 2011-04-01
• [学会発表] On indirect detection of functional hold-time violations using scan shift operations (2011)
  • 著者名/発表者名: 岩垣剛
  • 学会等名: 第44回機能集積情報システム研究会
  • 発表場所: 千葉大学(千葉県)
  • 年月日: 2011-03-07
• [学会発表] On indirect detection of functional hold-time violations using scan shift operations (2011)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki and Kewal K. Saluja
  • 学会等名: IEICE Technical Report (FIIS-11-298)
  • 発表場所: Chiba
  • 年月日: 2011-03-01
• [学会発表] An approach to test scheduling for asynchronous on-chip interconnects using integer programming (2010)
  • 著者名/発表者名: 岩垣剛
  • 学会等名: IEEE 11^<th> Workshop on RTL and High Level Testing
  • 発表場所: Shanghai Sheraton Hotel, Shanghai, China
  • 年月日: 2010-12-06
• [学会発表] An approach to test scheduling for asynchronous on-chip interconnects using integer programming (2010)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki, Eiri Takeda and Mineo Kaneko
  • 学会等名: Digest of Papers 11th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '10)
  • 発表場所: Shanghai (China)
  • 年月日: 2010-12-01
• [学会発表] Test scheduling Algorithms for delay-insensitive chip area interconnects based on cone partitioning (2010)
  • 著者名/発表者名: 岩垣剛
  • 学会等名: 3^<rd> International Workshop on Impact of Low-Power Design on Test and Reliability
  • 発表場所: Hotel Don Giovanni, Prague, Czech Republic
  • 年月日: 2010-05-28
• [学会発表] Test scheduling algorithms for delay-insensitive chip area interconnects based on cone partitioning (2010)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Iwagaki, Eiri Takeda and Mineo Kaneko
  • 学会等名: Proc. 3rd International Workshop on the Impact of Low-Power Design on Test and Reliability (LPonTR '10)
  • 発表場所: Prague (Czech republic)
  • 年月日: 2010-05-01