全ペアテストによる高効率なソフトウェアテストの実現

• 研究課題/領域番号: 23500046
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: ソフトウエア
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 土屋 達弘 大阪大学, 情報科学研究科, 教授 (30283740)
• 研究期間 (年度): 2011 – 2013
• 研究課題ステータス: 完了 (2013年度)
• 配分額: 3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円); 2013年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円); 2012年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円); 2011年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
• キーワード: ソフトウェアテスト / 全ペアテスト / ブラックボックステスト / ホワイトボックステスト / カバレッジ

研究概要

2機能の組み合わせをすべてテストするという全ペアテストを拡張し，高い不具合発見能力と効率を両立させるソフトウェアテストの実現に取り組んだ．具体的には，全ペアテストのテストケース生成の自動化，および，全ペアテストのホワイトボックステストへの拡張，というサブテーマを並行して進めた．まず，課題であった禁則処理を二分決定グラフを用いることで効率的に行う手法を実装した全ペアテストケース生成ツールを作成した．また，後者については，システムの制御フローを表現するグラフを対象として，全ペアテストの概念に基づく新しいテストカバレッジ基準を提案し，テストケース集合を自動的に生成できることを示した．

研究成果

• [雑誌論文] Using Satisfiability Solving for Pairwise Testing in the Presence of Constraints (2012)
  • 著者名/発表者名: Toru Namba, Tatsuhiro Tsuchiya, Tohru Kikuno
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: E95.A 号: 9 ページ: 1501-1505
  • DOI: 10.1587/transfun.E95.A.1501
  • NAID: 10031142535
  • ISSN: 0916-8508, 1745-1337
  • 査読あり
• [雑誌論文] Using Satisfiability Solving for Pairwise Testing in the Presence of Constraints (2012)
  • 著者名/発表者名: Toru Nanba, Tatsuhiro Tsuchiya, Tohru Kikuno,
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: E95-A ページ: 1501-1505
  • NAID: 10031142535
  • 査読あり
• [雑誌論文] Constructing Test Sets for Pairwise Testing: A SAT-Based Approach (2011)
  • 著者名/発表者名: Toru Nanba, Tatsuhiro Tsuchiya, Tohru Kikuno
  • 雑誌名: Proc. of 2011 Second International Conference on Networking and Computing 巻: 1 ページ: 271-274
  • DOI: 10.1109/icnc.2011.49
  • 査読あり
• [学会発表] インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案 (2014)
  • 著者名/発表者名: 永元雄宙, 小島英春, 土屋達弘
  • 学会等名: 電子情報通信学会ソフトウェアサイエンス研究会
  • 発表場所: 愛知
  • 年月日: 2014-01-31
• [学会発表] カッシア ジ ソウザ カルヴァーリョ, 状態遷移テストにおけるカバレッジ基準の提案とモデル検査を用いたテストケース生成について (2014)
  • 著者名/発表者名: 土屋達弘
  • 学会等名: 報処理学会ソフトウェア工学研究会ウィンターワークショップ
  • 発表場所: 大洗
• [学会発表] 状態遷移テストにおけるカバレッジ基準の提案とモデル検査を用いたテストケース生成について (2014)
  • 著者名/発表者名: 土屋達弘，カッシア ジ ソウザ カルヴァーリョ
  • 学会等名: 情報処理学会ソフトウェア工学研究会ウィンターワークショップ2014
  • 発表場所: 大洗
• [学会発表] パラメータ値に対する重み付けを考慮したテストケース集合の拡張 (2013)
  • 著者名/発表者名: 藤本哲, 小島英春, 土屋達弘
  • 学会等名: 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2013-04-26
• [学会発表] A value weighting method for pair-wise testing (2013)
  • 著者名/発表者名: Satoshi Fujimoto, Hideharu Kojima, Tatsuhiro Tsuchiya
  • 学会等名: 20th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC 2013)
  • 発表場所: バンコク
• [学会発表] パラメータ値に関する制約を考慮したランダムテストの不具合検出率について (2013)
  • 著者名/発表者名: 重岡大樹, 小島英春, 土屋達弘
  • 学会等名: 電子情報通信学会ソフトウェアサイエンス研究会
  • 発表場所: 石垣
• [学会発表] A Value Weighting Method for Pair-Wise Testing (2013)
  • 著者名/発表者名: Satoshi Fujimoto, Hideharu Kojima and Tatsuhiro Tsuchiya
  • 学会等名: 20th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC 2013)
  • 発表場所: bangkok
• [学会発表] パラメータ値に関する制約を考慮したランダムテストの不具合検出率について (2013)
  • 著者名/発表者名: 重岡大樹, 小島英春, 土屋達弘
  • 学会等名: 電子情報通信学会ソフトウェアサイエンス研究会
  • 発表場所: 石垣市
• [学会発表] パラメータ値に関する制約を考慮したランダムテストのためのテストケース生成手法 (2012)
  • 著者名/発表者名: 田中真吾, 小島英春, 土屋達弘
  • 学会等名: 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京
• [学会発表] SATソルバを用いたペアワイズテストの作成 (2012)
  • 著者名/発表者名: 難波亨，土屋達弘，菊野亨
  • 学会等名: 情報通信学会ソフトウェア工学研究会ウインターワークショップ2012
  • 発表場所: 琵琶湖コンファレンスセンター
• [学会発表] Constructing Test Sets for Pairwise Testing : A SAT-Based Approach (2011)
  • 著者名/発表者名: Toru Namba, Tatsuhiro Tsuchiya, Tohru Kikuno
  • 学会等名: 2011 Second International Conference on Networking and Computing
  • 発表場所: 大阪
• [備考]
  • URL: http://www-ise4.ist.osaka-u.ac.jp/~t-tutiya/CIT/