ＬＳＩの高速実動作テストを実現するテストパターン生成法に関する研究

• 研究課題/領域番号: 23500068
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 東海大学
• 研究代表者: 浅川 毅 東海大学, 情報理工学部, 教授 (00384850)
• 研究期間 (年度): 2011 – 2013
• 研究課題ステータス: 完了 (2013年度)
• 配分額: 4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円); 2013年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円); 2012年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円); 2011年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
• キーワード: VLSI / 高速テスト / テストパターン生成 / LSIテスター / テスト

研究概要

高品質LSIテスト分野における効果的テスト手法の開発を目的として，高速機能テスト手法の提案とそれを実現するプロセッサアーキテクチャを開発した．提案プロセッサは，パターンの自由度が高い，拡張性に優れる，高速パターン生成が可能という特長を持ち実用性に優れる．提案プロセッサをハードウェア（FPGA）で構成し，実評価を行った結果，LSIテスターと同等の高速機能テストを行うことが確認された．機能テストはデバイスの受け入れテストに多く使われているため，この成果を発展させて低コストのテストシステムを開発することは非常に有意義である．ここでの成果を国内学会（3件），国際会議（2件）にて発表を行った．

研究成果

• [学会発表] Development of the high-speed test pattern generator for LSI (2013)
  • 著者名/発表者名: Tomokatsu Yoshinari, Hokuto Ogihara, Aizuddin bin Shaali Masri, Yuki Takebayashi, Asakawa Takeshi
  • 学会等名: IEEE : 14th Workshop on RTL and High Level Testing
  • 発表場所: Yilan/Taiwan
  • 年月日: 2013-11-22
• [学会発表] Development of the High-Speed Processor for LSI Functional Test (2013)
  • 著者名/発表者名: Tomokatsu Yoshinari, Yuki Takebayashi, Aizuddin bin Shaali Masri, Satoshi Matsuno, Asakawa Takeshi
  • 学会等名: JICA : MJIIT-JUC Joint International Symposium 2013
  • 発表場所: Kanagawa/JAPAN
  • 年月日: 2013-11-08
• [学会発表] LSI機能テスト向け高速プロセッサの開発 (2013)
  • 著者名/発表者名: 浅川毅, 荻原帆斗, 吉成朝雄, 松埜智
  • 学会等名: 電子情報通信学会 : 第69回 FTC 研究会
  • 発表場所: 山口
  • 年月日: 2013-07-19
• [学会発表] LSI機能テスト向け高速プロセッサの開発 (2013)
  • 著者名/発表者名: 浅川毅(ＣＡ), 荻原帆斗, 吉成朝雄, 松埜智
  • 学会等名: 電子情報通信学会第69回ＦＴＣ研究会
  • 発表場所: 山口県湯田
• [学会発表] Development of the High-Speed Processor for LSI Functional Test (2013)
  • 著者名/発表者名: Hokuto Ogihara, Tomokatsu Yoshinari, Yuki Takebayashi, Aizuddin bin Shaali Masri, Satoshi Matsuno, Ａsakawa Takeshi(CA)
  • 学会等名: Ｊｉｃａ，ＭＪＪＩＳ２０１３
  • 発表場所: 神奈川県平塚市
• [学会発表] Development of the High-speed Test Pattern Genetator for LSI (2013)
  • 著者名/発表者名: Tomokatsu Yoshinari, Hokuto Ogihara, Aizuddin bin Shaali Masri, Yuki Takebayashi, Asakawa Takeshi(CA)
  • 学会等名: ＩＥＥＥ，14th Workshop on RTL and High Level Testing
  • 発表場所: Jiaosi, Taiwan
• [学会発表] BOST 手法を用いた LSI テスタの高速化技術に関する検討 (2012)
  • 著者名/発表者名: 浅川毅, 大森直樹, 荻原帆斗, 吉成朝雄, 松埜智
  • 学会等名: 電子情報通信学会 : 第67回 FTC 研究会
  • 発表場所: 滋賀
  • 年月日: 2012-07-13
• [学会発表] LSIテスタを用いたテスト検証手法に関する一考察 (2012)
  • 著者名/発表者名: 関根 司， 松埜 智， 浅川 毅
  • 学会等名: 電子情報通信学会（講演論文集東京支部学生会研究発表会第17回）
  • 発表場所: 東京都品川区
• [学会発表] BOST手法を用いたLSIテスタの高速化技術に関する検討
  • 著者名/発表者名: 浅川 毅 大森 直樹 荻原 帆斗 吉成 朝雄 松埜 智
  • 学会等名: 電子情報通信学会 第67回FTC研究会
  • 発表場所: 滋賀県大津市
• [備考]
  • URL: http://taraku.ec.u-tokai.ac.jp/
• [備考] Asakawa Laboratory
  • URL: http://taraku.ec.u-tokai.ac.jp/