研究課題
若手研究(B)
高信頼なバックアップ回路を動的に実現することができる高信頼再構成可能アーキテクチャを開発した。さらに、バックアップ機構により対象デバイスがスタンバイ状態にある間、スキャンパスを用いて緩和パタンを入力することでNBTIによる経年劣化を低コストで緩和する手法を提案した。また、再構成可能デバイスにおいて、緩和効果の限界によってタイミング故障に至る前にそれを予測し、故障回路とスペア回路のペアを特定するパス遅延テスト手法を提案した。
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すべて 雑誌論文 (9件) (うち査読あり 9件) 学会発表 (7件)
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