| 研究課題/領域番号 |
24310080
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 一部基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
量子ビーム科学
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| 研究機関 | 京都大学 (2014)
独立行政法人産業技術総合研究所 (2012-2013) |
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研究代表者 |
木野村 淳 京都大学, 原子炉実験所, 教授 (90225011)
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| 研究分担者 |
大島 永康 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (00391889)
オローク ブライアン (OROURKE Brian) 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (60586551)
鈴木 良一 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 首席研究員 (80357300)
小川 博嗣 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (60356699)
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| 連携研究者 |
大平 俊行 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (90356642)
土田 秀次 京都大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (50304150)
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| 研究協力者 |
西島 俊二
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
18,330千円 (直接経費: 14,100千円、間接経費: 4,230千円)
2014年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
2013年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円)
2012年度: 10,660千円 (直接経費: 8,200千円、間接経費: 2,460千円)
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| キーワード | 陽電子 / イオン照射 / 照射損傷 / その場分析 |
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| 研究成果の概要 |
イオン照射で形成される欠陥を照射と同時に陽電子寿命測定ができるイオン・陽電子複合ビーム分析装置の開発を行った。パルスイオンビームと、電子リニアックで発生するパルス低速陽電子ビームのタイミングを変えて照射し、20μsの時間幅で、陽電子寿命測定できるシステムを構築した。このシステムを用いて、酸化Si試料や純金属試料に対する同時照射実験を行った。純Ni試料に対する実験では、表面からの陽電子再放出を調べることで、イオン照射誘起欠陥の過渡変化を観測できることが示された
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