| 研究課題/領域番号 |
24560028
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
齊藤 結花 大阪大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (90373307)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
5,330千円 (直接経費: 4,100千円、間接経費: 1,230千円)
2014年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2013年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2012年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
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| キーワード | ラマン分光 / 近接場光学顕微鏡 / 偏光 / 分子配向 / ナノ材料 / 走査プローブ顕微鏡 / 超精密計測 / プラズモニクス / プラズモニスク / 顕微イメージング |
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| 研究成果の概要 |
本研究では、光を用いて非破壊的に分子配向のナノ・イメージングを実現する新たな装置を作製し、次世代微小デバイス開発に強力なツールを提供することを目的とした。近年の電子デバイスサイズの微小化にともない、高い空間分解能で材料の“配向”を評価することが必要とされている。特に有機半導体分子は配向角によって電荷移動度が異なるため、配向分布を測定することが性能評価に必須となる。ここでは近接場光学の特徴を生かしたユニークな偏光測定とラマン分光を組み合わせることで、ナノメートルの空間分解能をもって試料分子の配向方向を詳細に決定できる手法を開発した.
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