シリコン検出器によるＭｅＶ電子の３次元飛跡構成－高感度ガンマ線カメラへ向けて―

• 研究課題/領域番号: 24654065
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 素粒子・原子核・宇宙線・宇宙物理
• 研究機関: 京都大学
• 研究代表者: 市川 温子 京都大学, 理学(系)研究科(研究院), 准教授 (50353371)
• 研究期間 (年度): 2012-04-01 – 2014-03-31
• 研究課題ステータス: 完了 (2013年度)
• 配分額: 3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円); 2013年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円); 2012年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
• キーワード: 粒子測定技術 / ガンマ線カメラ / シリコンマイクロストリップ検出器

研究概要

ガンマ線カメラへの応用を視野にシリコンマイクロストリップ検出器を用いたMeV領域電子の飛跡角度測定を試みた。
シミュレーションにより、5MeVの電子に対して、25μmストリップピッチの検出器のヒット多重度から角度情報を取り出せることを示した。実際には、50μmストリップピッチの検出器に90Sr線源からのベータ線を照射して、信号をフラッシュADCで読み出した。ヒットの多重度の異なる事象の観測に成功した。今後、角度精度の評価には、90Srよりも高いエネルギーの線源を用いる必要がある。