| 研究課題/領域番号 |
24656436
|
|---|
| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
|
| 配分区分 | 基金 |
|---|
| 研究分野 |
材料加工・処理
|
|---|
| 研究機関 | 東京大学 |
|---|
研究代表者 |
寺嶋 和夫 東京大学, 大学院・新領域創成科学研究科, 教授 (30176911)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2012
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2012年度)
|
| 配分額 *注記 |
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2012年度: 4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
|
|---|
| キーワード | プラズマ処理 / レーザー加工 / イオンビーム / 超臨界イオンビーム / 超臨界流体プラズマ / 材料表面加工 / 表界面プロセス工学 |
|---|
| 研究概要 |
本研究では、超臨界流体イオン(イオンビーム)の創製、イオン源であるプラズマの分光学的診断、及び、その材料表面処理/加工プロセスへの応用を行った。また、そのプロセスの低温性、環境親和性などの実証を行った。その結果、そのトータルとしての革新的なハイパフォーマンス材料表面加工テクノロジーの可能性を示した。
|
