パス遅延テスト容易性を考慮した高位合成システムの開発

• 研究課題/領域番号: 24700056
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 基金
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 呉工業高等専門学校
• 研究代表者: 吉川 祐樹 呉工業高等専門学校, 機械工学分野, 准教授 (50453212)
• 研究期間 (年度): 2012-04-01 – 2015-03-31
• 研究課題ステータス: 完了 (2014年度)
• 配分額: 4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円); 2014年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円); 2013年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円); 2012年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
• キーワード: 遅延テスト容易性 / 高位合成 / LSIのテスト / LSIの高信頼設計 / 遅延故障のテスト / LSIのCAD

研究成果の概要

近年の高速に動作するLSIは遅延故障による不良チップが増加している．製造チップの市場不良率の抑制や製造コスト削減の観点から，遅延故障に対する高品質かつ低コストなテスト技術の開発は産業界で重要な課題となっている．本研究課題では，回路設計における上位段階からテスト容易性を考慮した設計手法（高位合成法）の提案を行った．

研究成果

• [雑誌論文] パス遅延故障の過剰テストを削減するためのテストパタン生成法 (2013)
  • 著者名/発表者名: 古本圭, 吉川祐樹
  • 雑誌名: 情報科学技術フォーラム講演論文集 巻: RC-004 ページ: 85-88
  • 査読あり
• [学会発表] 遅延故障のテスト容易性を指向した高位合成におけるスケジューリングに関する研究 (2015)
  • 著者名/発表者名: 中谷夏主政, 吉川祐樹
  • 学会等名: 総合大会 情報・システムソサイエティ特別企画
  • 発表場所: 立命館大学（滋賀県草津）
  • 年月日: 2015-03-10 – 2015-03-13
• [学会発表] A Binding Method to Synthesize Path Delay Testable RTL Circuits (2014)
  • 著者名/発表者名: Kei Furumoto and Yuki Yoshikawa
  • 学会等名: Proc. 4rd International Symposium on Technology for Sustainability (ISTS)
  • 発表場所: 台北（台湾）
  • 年月日: 2014-11-19 – 2014-11-21
• [学会発表] A Scheme of Test Pattern Generation to Reduce Over-testing of Path Delay Faults (2013)
  • 著者名/発表者名: Kei Furumoto and Yuki Yoshikawa
  • 学会等名: Proc. 3rd International Symposium on Technology for Sustainability (ISTS)
  • 発表場所: 香港（中国）
• [学会発表] A Binding Algorithm in High-Level Synthesis for Path Delay Testability (2013)
  • 著者名/発表者名: Yuki Yoshikawa
  • 学会等名: 18th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
  • 発表場所: 国際会議場 パシフィコ横浜