| 研究課題/領域番号 |
25288115
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 一部基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
デバイス関連化学
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
入山 恭寿 名古屋大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (30335195)
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| 研究分担者 |
本山 宗主 名古屋大学, 工学研究科, 講師 (30705752)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
15,730千円 (直接経費: 12,100千円、間接経費: 3,630千円)
2015年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
2014年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
2013年度: 11,050千円 (直接経費: 8,500千円、間接経費: 2,550千円)
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| キーワード | 二次電池 / 界面 / 原子間力顕微鏡 / 全固体電池 / 固体電解質 / 複合体 / イオン伝導率 / 空間電荷層 / 電池 |
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| 研究成果の概要 |
固体電解質のイオン伝導率が誘電率と相関する点に着目し、振幅変調型AFM（AM－AFM）を用いて、ガラス電解質の局所比誘電率を計測する手法を確立した。ガラス電解質の一つであるリン酸リチウムオキシナイトライド（LiPON）を導電性基板上に成膜し、AM-AFM測定を用いてその比誘電率を計測した結果、およそ20の値が得られた。これは文献値（16-20）とほぼ一致する値である。この知見を用いて、BaTiO3-LiPONの界面近傍の比誘電率の分布を調べた結果、界面近傍にバルクとは異なる比誘電率をもつ領域が存在する可能性を見いだした。
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