| 研究課題/領域番号 |
25330062
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 愛媛大学 |
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研究代表者 |
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授 (40304654)
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| 研究分担者 |
高橋 寛 愛媛大学, 大学院理工学研究科, 教授 (80226878)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2015年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2014年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2013年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
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| キーワード | LSI / 故障診断 / 遅延故障 / 3次元LSI / LSIのテスト / LSIの故障診断 |
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| 研究成果の概要 |
3次元LSIにおいてビア接続不良が発生した場合に考えられる影響として，信号の伝搬遅延が想定される．そこで本研究では，遅延故障に対する故障診断法を開発した．対象故障は，ゲート信号線とクロック信号線であり，様々な大きさの遅延量に適用可能とした．また，一時的に信号値が変化するハザードの発生にも対応できるようにした．開発した手法をベンチマーク回路に適用した実験により開発した手法の有効性を確認した．
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