| 研究課題/領域番号 |
25410143
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
分析化学
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| 研究機関 | 成蹊大学 (2014-2016)
島根大学 (2013) |
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研究代表者 |
青柳 里果 成蹊大学, 理工学部, 教授 (20339683)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
5,200千円 (直接経費: 4,000千円、間接経費: 1,200千円)
2016年度: 130千円 (直接経費: 100千円、間接経費: 30千円)
2015年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2014年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2013年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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| キーワード | 質量イメージング / 表面科学 / TOF-SIMS / 多変量解析 / 近接場赤外顕微鏡 / ToF-SIMS / データ解析 / イメージング / 国際情報交換 イギリス / 国際情報交換 ドイツ |
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| 研究成果の概要 |
飛行時間型二次イオン質量分析は、100nm程度以下の高い空間分解能で固体試料の分子イメージングが可能な手法だが、分子およびそのフラグメントから構成されるスペクトルの解釈が難しい場合が多く、多成分系でかつ未知成分が含まれるような系での分析は困難だった。本研究で、多変量解析による未知成分も含めた試料分析と同程度の空間分解能を持つ近接場赤外顕微鏡との併用による定量性の向上を実現した。
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