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THz偏光計測による樹脂成形品の残留応力評価技術の開発

研究課題

研究課題/領域番号 25630017
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分基金
研究分野 生産工学・加工学
研究機関東京大学

研究代表者

梶原 優介  東京大学, 生産技術研究所, 准教授 (60512332)

研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2015-03-31
研究課題ステータス 完了 (2014年度)
配分額 *注記
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2014年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2013年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
キーワードテラヘルツ波 / 残留応力 / 結晶配向 / プラスチック / 光弾性法 / プラスチック成形 / 内部物性 / テラヘルツ分光
研究成果の概要

本研究においては,樹脂成形品における内部物性評価手法としてTHz光弾性法の適用を提案した.THz光弾性の妥当性を評価する基礎検証として,様々な条件で射出成形したポリプロピレン試料に対しTHz時間領域分光法(THz-TDS)を利用したTHz分光を行った.結果として,特に4~5THzの領域において,残留応力や結晶配向がTHz偏光特性と大きな相関があることが確認でき,提案法の妥当性が示された.THz応答は様々な要素に起因して生じているため,今後は定量的に分離できるよう,より偏光特性等の評価を推し進めれば,残留応力などの内部物性を精密に評価可能な技術が確立すると考えられる.

報告書

(3件)
  • 2014 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2013 実施状況報告書
  • 研究成果

    (9件)

すべて 2014 2013 その他

すべて 雑誌論文 (1件) (うち謝辞記載あり 1件) 学会発表 (5件) (うち招待講演 1件) 備考 (2件) 産業財産権 (1件)

  • [雑誌論文] 計測技術-テラヘルツ計測-2014

    • 著者名/発表者名
      梶原優介
    • 雑誌名

      成形加工

      巻: 26 ページ: 342-345

    • NAID

      130007960968

    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
    • 謝辞記載あり
  • [学会発表] THz計測による樹脂内残留応力評価法の検証2014

    • 著者名/発表者名
      梶原優介,松澤亮,木村文信
    • 学会等名
      生産加工・工作機械部門講演会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2014-11-16
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] 樹脂内部応力によるTHz応答変化2014

    • 著者名/発表者名
      松澤亮,木村文信,梶原優介
    • 学会等名
      プラスチック成形加工学会シンポジア
    • 発表場所
      新潟市朱鷺メッセ
    • 年月日
      2014-11-15
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] THz計測による非破壊な樹脂残留応力評価法の検証2014

    • 著者名/発表者名
      松澤亮,梶原優介
    • 学会等名
      プラスチック成形加工学会年次大会
    • 発表場所
      タワーホール船堀
    • 年月日
      2014-06-03
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] 赤外/THz計測による樹脂成形品の残留応力評価法の検証2014

    • 著者名/発表者名
      松澤亮,梶原優介
    • 学会等名
      精密工学会春季大会
    • 発表場所
      東京大学
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
  • [学会発表] テラヘルツ計測と加工技術応用への展望2013

    • 著者名/発表者名
      梶原優介
    • 学会等名
      新加工技術専門委員会
    • 発表場所
      東京工業大学
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
    • 招待講演
  • [備考] 梶原研究室

    • URL

      http://www.snom.iis.u-tokyo.ac.jp/

    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [備考] 東京大学生産技術研究所 梶原研究室

    • URL

      http://www.snom.iis.u-tokyo.ac.jp/

    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
  • [産業財産権] 残留応力評価装置および残留応力評価方法2014

    • 発明者名
      梶原優介,松澤亮
    • 権利者名
      梶原優介,松澤亮
    • 産業財産権種類
      特許
    • 出願年月日
      2014-07-01
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書

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公開日: 2014-07-25   更新日: 2019-07-29  

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