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先端LSIテスト手法に対応した設計フロー最適化に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 25730031
研究種目

若手研究(B)

配分区分基金
研究分野 計算機システム
研究機関九州工業大学

研究代表者

宮瀬 紘平  九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教 (30452824)

研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2016-03-31
研究課題ステータス 完了 (2015年度)
配分額 *注記
3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
2015年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2014年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2013年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
キーワードVLSI設計技術 / LSIテスト
研究成果の概要

本研究では、レイアウトデータの中で電力制御の観点から必要なデータとそうでないデータを分割する技術と、必要なデータに対して集中してテスト入力生成を行う技術を提案した。これらの成果は、そのまま統合することが可能であり、LSI設計フローの最適化に貢献する。レイアウトデータの分割および解析結果は、レイアウト設計における電源設計や電力制御を考慮したテスト入力生成技術に役立ち、設計フローの効率化にも貢献する。

報告書

(4件)
  • 2015 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2014 実施状況報告書
  • 2013 実施状況報告書
  • 研究成果

    (6件)

すべて 2015 2013 その他

すべて 国際共同研究 (1件) 学会発表 (5件) (うち国際学会 1件)

  • [国際共同研究] フライブルク大学(ドイツ)

    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
  • [学会発表] レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究2015

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, ザウアー マティアス, ベッカー ベルンド, 温暁青, 梶原誠司
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京:機械振興会館
    • 年月日
      2015-06-16
    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
  • [学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      European Test Symposium
    • 発表場所
      ルーマニア
    • 年月日
      2015-05-28
    • 関連する報告書
      2014 実施状況報告書
  • [学会発表] Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      European Test Symposium 2015
    • 発表場所
      ルーマニア クルージュ・ナポカ
    • 年月日
      2015-05-26
    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Search Space Reduction for Low-Power Test Generation2013

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      Asian Test Symposium
    • 発表場所
      台湾
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
  • [学会発表] Controllability of Analysis of Local Switching Activity for Layout Design

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Matthias Sauer, Bernd Becker, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 学会等名
      Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies
    • 発表場所
      フランス
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書

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公開日: 2014-07-25   更新日: 2019-07-29  

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