| 研究課題/領域番号 |
25870938
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
分析化学
物理化学
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| 研究機関 | 近畿大学 |
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研究代表者 |
森澤 勇介 近畿大学, 理工学部, 講師 (60510021)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2014年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2013年度: 2,990千円 (直接経費: 2,300千円、間接経費: 690千円)
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| キーワード | 遠紫外分光学 / ポリスチレンナノ粒子 / 減衰全反射法 / 電子状態 / 表面分析 / スペクトル分析 / 分子分光 / 高分子ナノ粒子 / 減衰全反射遠紫外分光法 / 高分子 / 減衰全反射 / 遠紫外分光法 |
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| 研究成果の概要 |
ポリスチレンナノ粒子（PSNP）および表面修飾されたPSNPの電子状態を多角入射減衰全反射遠紫外分光法（VIA-ATR-FUV ）によって測定した。VIA-ATR-FUVは、固体試料の遠紫外スペクトルを測定し、表面からの深さの変化を研究することができる。PSNPを規則正しく配置し凹凸ある面での測定精度向上を目指して研究を行い、波長より大きいPSNPではエバネッセント波の散乱の影響を受けること、一方で、より小さなナノ粒子のスペクトルはPS均一膜と同様のスペクトルが観測された。電磁波計算との比較により、表面100nm以内に焦点を当てた電子状態分析の可能性を見出した。
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