| 研究課題/領域番号 |
26330071
|
|---|
| 研究種目 |
基盤研究(C)
|
| 配分区分 | 基金 |
|---|
| 応募区分 | 一般 |
|---|
| 研究分野 |
計算機システム
|
|---|
| 研究機関 | 日本大学 |
|---|
研究代表者 |
細川 利典 日本大学, 生産工学部, 教授 (40373005)
|
|---|
| 研究協力者 |
藤原 秀雄
吉村 正義
宮瀬 紘平
山崎 紘史
松永 裕介
四柳 浩之
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
|
| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2016年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2015年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2014年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
|
|---|
| キーワード | 動作合成 / テスト生成 / 低消費電力 / トロイ検出 / テスト容易化合成 / テスト環境生成 / マルチサイクルキャプチャテスト / 故障診断 / 高位合成 / テスト容易化バインディング / テスト容易化スケジューリング / テスト容易化機能的時間展開モデル / 低消費電力指向テスト圧縮 / テストポイント挿入 / コントローラ拡大 / 階層テスト生成 / テスト容易化機能的時間展開モデル生成 / 低消費電力指向テスト生成 / マルチサイクルキャプチャテスト生成 |
|---|
| 研究成果の概要 |
本研究では、LSI（大規模集積回路）に搭載されている機密情報の安全性を保証しつつ、低コストで高品質なLSIの製造テストを実施し、その信頼性・安全性を確保する技術を確立することを目的とする。
3年間の研究機関で、LSIの高位設計におけるテスト容易化合成・テスト容易化設計法、効率的なテスト生成モデルを生成するためのテスト容易化機能情報抽出法、低消費電力・テスト圧縮を指向したテスト生成法、トロイ検出法を提案した。
少ないハードウェアオーバヘッドでLSIの高品質なテストを安全に低コストで実現できることに貢献した。
|
