| 研究課題/領域番号 |
26330073
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 早稲田大学 |
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研究代表者 |
史 又華 早稲田大学, 理工学術院, 准教授 (70409655)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2016年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2015年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2014年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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| キーワード | 高信頼化 / ディペンダブルコンピューティング / LSI設計 / 製造ばらつき / ソフトエラー / 信頼化設計 / タイミングエラー / LSI設計技術 / ばらつき耐性 / 低消費エネルギー |
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| 研究成果の概要 |
半導体プロセス微細化に伴い、信頼性が集積回路設計における大きな問題となりつつある。本研究は、集積回路の信頼性問題の解決策として、「予測」の概念を導入し、in-situエラー予測による高信頼・低エネルギーLSI設計技術の研究開発を行った。まず、ばらつきに対して、実際回路動作の途中段階で回路が正しく動作しているか否かを高精度な予測設計技術を開発した。次に、ソフトエラーに対して、LSI回路中の信号を利用・比較することによりソフトエラーを検出・回復できるラッチ設計を提案した。さらに、LSI回路のエネルギーを最小化するために、トランジスタ特性ばらつきや動作環境に応じて高信頼化AVS設計技術を提案した。
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